100 マイクロン 無形シリコン A Si DR 非破壊試験などの様々な分野向け

100 マイクロン 無形シリコン A-Si DR と非破壊性試験などの様々な分野のために

3025DA-AGは,非破壊性試験に適した,無形シリコン (a-Si) をベースとした軽量検出器である.

センサー
レセプタータイプ a-Si

スチンチラター Gos / CsI:TI

アクティブエリア 300 x 254 mm

解像度 2560 x 3072

ピクセルピッチ 100 μm

電源とバッテリー

アダプター AC 100-240V,50-60Hz

アダプター 24V DC2.7A

電力消耗 < 20 W

画像品質
制限解像度 3.5 LP/mm

エネルギー範囲 40〜160KV

動的範囲 ≥84 dB

感度 ≥0.54 LSB/nGy

Ghos <1% 1番目のフレーム

DQE 42% @(1LP/mm)

28% @ (((2 LP/mm)

MTF 68% @(1 LP/mm)

38% @(2 LP/mm)

20% @(3 LP/mm)

電気部品とインターフェース
A/D変換 16ビット

データインターフェース ギガビットイーサネット

フレームレート 1x1 5fps/2x2 15fps/3x3 25fps

照明制御 フリーラン/SYNC取得

メカニカル
寸法 384 × 460 × 14.8 mm
体重3.4kg

材料 アルミニウムとマグネシウム合金

フロントパネル 炭素繊維

環境問題

温度 10~35°C (動作) 10~50°C (保管)

湿度 30-70% RH (冷却しない)

侵入防止 IP51

2000年に設立されたHUATECグループは,北京中国で信頼性の高い試験機器の製造者およびサプライヤーです.HUATECグループは,自社子会社のすべての研究開発と生産の利点を組み合わせていますグローバル市場でのマーケティングと販売の経験を活用し,国際市場に最も適格な競争力のある製品とサービスを提供します.

HUATECグループの製品は,あらゆる種類の金属と非金属のテスト機器から構成されています. 例えば,携帯硬度テスト,マイクロ硬度テスト,岸硬度計,ヴィッカース硬度テスト,ロックウェル硬度テスト, ブリーネル硬度テスト,ポータブルX線欠陥検出器,モバイルX線欠陥検出器,リアルタイムX線画像欠陥システム,ホリデー検出器,デジタルポータブルエディ電流電導度計,デジタル超音波欠陥検出器,コーティング/塗装厚み計,超音波厚み計,振動計,表面荒さ計,プロファイルプロジェクターなど,および超音波変換器などのすべてのアクセサリー,試験ブロック鉛画面,密度計,フィルムビューヤーなど

HUATECグループの従業員には,国内外のすべての顧客に満足のいく製品と迅速なサービスを提供することにコミットしている,販売およびサービスのための高度に訓練されたエンジニアのスタッフが含まれています.

HUATECグループは,中国で最も先進的な技術に基づいています. 中国で有名な産業グループです. 開発と研究,様々なテスト機器の精密生産に焦点を当てています.グループには,北京地区に2つの独自の工場と2つの姉妹工場があります.すべての製品はISO9001規制に従って生産され,製品は過去数年間に世界市場のほとんどに輸出されています.

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