デジタル LCD 表示の携帯用 Leeb の硬度のテスターの Hartip 2000 年の Leeb の硬度の測定

デジタル LCD 表示の携帯用 Leeb の硬度のテスターの Hartip 2000 年の Leeb の硬度の測定

HARTIP 2000 年は私達の新しいパテントの技術の革新的な携帯用 Leeb の硬度のテスターです。 作るかどれが

HARTIP 2000 年普遍的な影響の方向硬度のテスター。 それは取るとき影響の方向をセットアップする必要性ではないです

角度による測定。 従って、HARTIP 2000 は角度と比較する線形正確さを提供します

償い方法。 HARTIP 2000 年はまた費用節約の hardenss のテスターで、他の多くの特徴があります。

細部:

普遍的な角度
より正確: ±2 HL
角度のための線形正確さ
影響の方向をセットアップする必要性無し
影響の方向のための補償無し
主要特点
それはテストするときそれ別の影響の方向を手で調節する必要はありません、避けます人造の間違いを影響の方向を自動的に確認できます
高精度: +/-2HL （または 0.3% @HL800）
二重価値（Leeb の価値および 1 つの転換の価値）は同じスクリーンで表示することができます
バックライトが付いている大きい LCD 表示
造られた鋼鉄を含む 10 のテスト材料
それに強さの転換の価値があります
それは、Bluetooth/RS232 インターフェイス マイクロ プリンターを直接接続できます
記憶の 999 データ
許可される顧客の再口径測定
自動的に電源-入/切
経済的で、使用すること便利。
防水および堅い携帯用ケースで詰められる

モデル HARTIP 2000/HARTIP2000 DL
主義: Leeb の硬度の測定
正確さ:  ±0.3% @ HL=800
反復性: ±2HL
表示: バックライトとのデジタル LCD
硬度のスケール: HL/HRC/HRB/HB/HV/HS/σb
測定範囲: HL170-960/HRC17-69/HRB13-101.7/HB20-655/HV80-940/HS32-99.5
影響装置:  DU/DU-DL 2 1 の（外面）
影響の方向: 普遍的な角度のタイプ
材料: 11 の共通の金属材料
記憶: 300 データは貯えられ、再読解可能である場合もあります

Sino年齢の開発の技術、1993年に確立される株式会社（SADT）はNDTおよび品質管理分野を専門にする測定し、テストの器械のための一流の製造業者です。私達に1995年以来の私達の自身のHARTIPシリーズ携帯用硬度のテスターがあります。私達はISO 9001の品質システムを持つ専門の生産者です。プロダクトのほとんどはセリウムの証明書と加えられます。

今度は私達の主要なプロダクトは硬度のテスター、超音波厚さゲージ、具体的なテスト ハンマー、光沢のメートル、測色計、荒さのテスター、金属顕微鏡、超音波欠陥の探知器を等覆います。私達は1996年以来の海外市場にバッチ量の私達のプロダクトを輸出しました。私達の主要な海外市場は次のとおりです:米国、カナダ、ドイツ、フランス、ネザーランド、フィンランド、イタリア、チェコ、ポーランド、リスアニア、エストニア、セルビア、ロシア、ギリシャ、トルコ、オーストラリア、ニュージーランド、韓国、台湾、シンガポール、タイ、インドネシア、マレーシア、ベトナム、インド、パキスタン、イラン、アラブ首長国連邦、エジプト、南アフリカ共和国、メキシコおよびコロンビア、ペルーおよび等。SADTによって供給されるすべてのプロダクトに私達の最もよいサービスの優秀な質そして競争価格があります。