影響装置/調査の携帯用硬度のテスターのLeebの硬度のテスター
型式番号:-
原産地:中国
最低順序量:1 pc
支払の言葉:ウェスタン・ユニオン、T/T、Paypal
供給の能力:500pcs/month
受渡し時間:5-8 の仕事日
企業との接触
Add to Cart
確認済みサプライヤー
Beijing Beijing China
住所：
建物5のTEDA Raycom公園、No.12朱元の道、Tianzhuの自由貿易地域Shunyi、101312、北京、中国
サプライヤーの最後のログイン時間:
内 1 時間
製品詳細
会社概要
製品詳細
影響装置Leebの硬度のテスターのための影響の装置/調査
さまざまな影響装置はアナログの影響装置、デジタル影響装置、無線影響装置、普遍的な影響装置を含み、独特な読む調査、テスターをすべての金属の硬度をテストするために適したようにするLeebの硬度のテスターのために設計されている。それらは力、petro化学、エア
スペース、車、機械の企業で等広く利用されている。
影響装置
ケーブルが付いているアナログの影響装置
影響装置D
影響装置DC
影響装置D+15
影響装置DL
影響装置C
影響装置E
影響装置G
ケーブルが付いている普遍的な影響装置
影響装置D
影響装置DC
影響装置D+15
影響装置DL
影響装置C
影響装置E
影響装置G
ケーブルが付いているデジタル影響装置
影響装置D
無線影響装置
影響装置D
影響装置DC
影響装置D+15
影響装置DL
影響装置C
影響装置を読むこと
RPの読書調査
指定
| 影響装置（調査） | 記述 | ||
| D | 硬度のテストの割り当ての大半のための普遍的な標準単位。 | ||
| DC | 非常に短い影響装置、タイプD.と同一の他のspecs。 | ||
| 適用: | 非常に狭い場所。 | ||
| 穴およびシリンダー。 | |||
| 組み立てられた機械の内部測定 | |||
| D+15 | 細い前部 | ||
| 適用: | 溝および引込められた表面 | ||
| DL | 非常に細い前部。 | ||
| 適用: | 非常に狭い場所 | ||
| 溝の基盤 | |||
| C | 減らされた影響エネルギー（タイプD）と比較される | ||
| 適用: | 表面の堅くされた部品、コーティング | ||
| 最低の層の厚さ:0.2mm | |||
| 薄い-囲まれたまたは影響の敏感な部品（小さい測定の刻み目） | |||
| E | 総合的なダイヤモンド テスト先端（approx.5000 HV） | ||
| 適用: | 高炭素の鋼鉄1200までHVのような非常に高い硬度の測定 | ||
| G | 拡大されたテスト先端、高められた影響エネルギー（およそ9回タイプD）の | ||
| 適用: | Brinell硬度の範囲だけ | ||
| 表面の終わりのより低い要求を用いる重い鋳造物そして造られた部分 | |||
影響装置/調査の携帯用硬度のテスターのLeebの硬度のテスター
お問い合わせカート
0