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動作波長 633 Nm 光学試験装置 フラットネステスター

高精度の平坦のテスター 適用 金属の部品、大理石および他の密封の部品の平坦の高精度のテストのため。 働き主義 multi-aperture必要な検出に基づく平坦のテストの技術。 特徴 モデル FI200......
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半導体表面検出器システム 光学試験装置 40x

半導体の表面の探知器システム光学試験装置40x 適用 半導体の表示の分野の空白のマスクのプロセス制御および収穫管理のため 集積回路の破片の製造業、私達は速く作るのに高い効率の光学テストの技術を使用する 空白のマスクの表面欠陥のための正確な自動検出。専門のユーザーのニーズに従って、......
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傷 ほこり 半導体表面検出装置 分解能 1.8μM

傷は光学試験装置の半導体の表面の探知器1.8μMの塵を払う 適用半導体の表示の分野の空白のマスクのプロセス制御および収穫管理のため集積回路の破片の製造業、私達は速く作るのに高い効率の光学テストの技術を使用する空白のマスクの表面欠陥のための正確な自動検出。専門のユーザーのニーズに従って、私達は一連の....
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リアルタイム応力の大きさ 応力分布 複屈折測定 検出装置

実時間圧力の複屈折の検出装置 適用 紫外線紫外 半導体 光源の原料の製造業者 気力目に見える レンズ、光学原料、フィルム ......
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VIS 520nm 590nm 650nm 複屈折測定装置

圧力の大きさの複屈折の測定システムの光学試験装置のリアルタイム 適用 紫外線紫外 半導体 光源の原料の製造業者 気力目に見える レンズ、光学原料、......
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ZEIT 光学検査装置 ランプ リフレクタ 形状 ウェーハ平坦度 表面欠陥検出

構造軽い大型の表面の形の検出装置 適用 ランプの反射器の形の検出;ウエファーの平坦の検出;車のペンキの表面の検出;レンズの表面の形の検出。 働き主義 表示は縞の形態の構成されたライトを写し出し、カメラは測定されるから構成されたライトを集める 表面は測定された表面、ポイント......
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傷 ほこり 光学試験装置 半導体表面検出器 1.8μM

半導体の物質的な表面欠陥の探知器 適用 半導体の表示の分野の空白のマスクのプロセス制御および収穫管理のため 集積回路の破片の製造業、私達は速く作るのに高い効率の光学テストの技術を使用する 空白のマスクの表面欠陥のための正確な自動検出。専門のユーザーのニーズに従って、 私達は一連......
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応力度複屈折測定システム 光学試験装置 リアルタイム

実時間圧力の複屈折の検出装置 適用 紫外線紫外 半導体 光源の原料の製造業者 気力目に見える レンズ、光学原料、フィルム ......
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