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データ記憶の手持ち型のディジタル マルティメーターのパスのダイオード テストおよびトランジスターHFEはYH111をテストします

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シティ:shenzhen
省/州:guangdong
連絡窓口:Ms. Rosas Jiang
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データ記憶の手持ち型のディジタル マルティメーターのパスのダイオード テストおよびトランジスターHFEはYH111をテストします

最新の価格を尋ねる
証明 :CE
価格 :the best price
原産地 :広東省、中国(本土)
型式番号 :YH103
最低順序量 :1つのサンプル等級
包装の細部 :外のための箱、単位のためのギフト用の箱をカートンに入れて下さい
受渡し時間 :顧客の必要性に従って。
支払の言葉 :T/Tウェスタン・ユニオンMoneyGram
供給の能力 :8000 PCの每の/月
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データ記憶の手持ち型のディジタル マルティメーターのパスのダイオード テストおよびトランジスターHFEはYH111をテストします

 

 

速い細部:

 

国際的な安全基準IEC 1010-1のCATへの1.Designed III 600V、CAT II 1000V

2.Data把握

3.Display:1999カウント、ディジットは高い15mmです

ブザーによって点検する4.Continuity

電源遮断の5.Auto

6.Diodeテスト

7.Transistor hFEテスト

 

 

指定:

 

機能

範囲

DC電圧

200m/2/20/200V±0.5%;     1000V±0.8%

AC電圧

200m/2/20/200V±0.8%;     750V±1.2%

DCの流れ

200µ/2m/20mA±0.8%;    200mA±1.2%;     10A±2.0%

AC流れ

2m/20mA±1.2%;    200mA±1.8%;    10A±3.0%

抵抗

200/2k/20k/200k/2MΩ±0.8/%;     20MΩ±1.0%

1.5V (AAA) x 3

 

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