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ウエファーのサイズのための金属顕微鏡を測定する50xは点検する

ウエファーのサイズのための金属顕微鏡を測定する50xは点検する
  • ウエファーのサイズのための金属顕微鏡を測定する50xは点検する
製品の詳細
使用法 金属顕微鏡を測定するシリーズを半導体のパッケージ、はんだのパッド、ループ高さ、FPDのパネル(LCM)で等広く利用されている、ウエファーのレベルCSPS点検しなさい。 特徴 ■安定性が高いおよび剛性率を保障する高精度の大理石の基盤、テーブルおよびコラム ■大理石のテーブルの設計は、精密V形...
製品詳細図 →