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1 - 10 の結果 use of spectrometer から 393 製品

フルスペクトルICP OES分光計 20A プラズマ発光分光計

China フルスペクトルICP OES分光計 20A プラズマ発光分光計 on sale
全スペクトルICP-OESスペクトロメーター プラズマ放出スペクトロメーター LR-700 フルスペクトル直読誘導結合プラズマ放射スペクトロメーターは,優れたフルスペクトル直読ICPスペクトロメーターです.主要な物質の含有量を決定するために使用される, 異なる物質中の微小元素と微小元素を検出し,サン...
DONGGUAN LONROY EQUIPMENT CO LTD
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中国広東省東莞市南城街道三元里社区観泰路111号民建金融ビル1号棟11階A31

多用途 コンパクト SR75C 光ファイバースペクトロメーター 110mm*95mm*43mm

China 多用途 コンパクト SR75C 光ファイバースペクトロメーター 110mm*95mm*43mm on sale
多用途 コンパクト SR75C 光ファイバースペクトロメーター 110mm*95mm*43mm 基本規格 検出器のタイプ 線形配列CMOS,ハママツ S11639 ピクセルサイズ 14μm*200μm 光学設計 M C-T型ライトパス グレーティング・スロット 10μm,25μm...
JINSP Company Ltd.
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21階,ビルD,清華トンファング科学技術広場,ハイディアン地区,北京 中国

カスタマイズ可能なK線形光相性トモグラフィー OCTスペクトロメーターモジュール OCT3D画像システム統合

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ST830E 光干渉断層撮影法 (OCT) スペクトロメーター JINSP ST830E スペクトロメーターは、高解像度、高信号対雑音比の三次元断層画像化および血流ネットワーク画像化のために設計された、高速で安定した商用OCTスペクトロメーターです。用途には、角膜、水...
JINSP Company Ltd.
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線形波数 光共性トモグラフィ OCT モジュールスペクトロメーター

China 線形波数 光共性トモグラフィ OCT モジュールスペクトロメーター on sale
線形波数光相性トモグラフィー OCTモジュールスペクトロメーター 製品概要 JINSP ST830Eスペクトロメーターは高速で安定した商業用OCTスペクトロメーターで,高解像度のために設計されています.高信号/ノイズ比 3次元トモグラフィー画像と血流ネットワーク画像医療用と工業用の両方に適してい...
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汎用コンパクトラーマンスペクトロメーター 研究室での信頼性のある使用

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研究研究所のユニバーサルコンパクトラマン分光計 重要な仕様 属性 価値 検出器タイプ 線形アレイCMOS、H...
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ヘリウム質量分析計リークディテクタ真空分光リークマシン

China ヘリウム質量分析計リークディテクタ真空分光リークマシン on sale
ヘリウム質量分析計リークディテクタ真空分光計リークマシン はじめに NHJ480シリーズリークディテクタは、全自動モバイルヘリウム質量分析リーク ディテクタで、ミュートホイール設計を採用しており、多くの過酷な真空産業に適しています。 ヘリウム質量分析と逆拡散原理を使用し、180°不...
DONGGUAN LONROY EQUIPMENT CO LTD
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中国広東省東莞市南城街道三元里社区観泰路111号民建金融ビル1号棟11階A31

ST830E OCTスペクトロメーター 医療用高解像度画像

China ST830E OCTスペクトロメーター 医療用高解像度画像 on sale
ST830E オプティカルコアレンスのトモグラフィー (OCT) スペクトロメーター JINSP ST830Eスペクトロメーターは高速で安定した商業用OCTスペクトロメーターです.高解像度,高い信号/ノイズ比の3次元トモグラフィーに使用できます. 角膜,結晶鏡,網膜などの画像と血流ネットワーク画像...
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バックライトアレイCCD UVエンハンスド高感度モジュール分光器、積分時間4ms~900s、スペクトル範囲200nm~1100nm

China バックライトアレイCCD UVエンハンスド高感度モジュール分光器、積分時間4ms~900s、スペクトル範囲200nm~1100nm on sale
バックライト配列CCDUV強化高感度モジュールスペクトロメーター 高性能スペクトロメーター,統合時間4ms-900s,スペクトル範囲200nm-1100nm 基本規格 スペクトル範囲 200nm~1100nm 効果的なピクセル 2048*64 ピクセルサイズ 28.672*0.896mm 統合...
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TE冷却CCDチップ光ファイバースペクトロメーター 非破壊性フィルム厚さの測定スペクトル範囲 200nm 1100nm

China TE冷却CCDチップ光ファイバースペクトロメーター 非破壊性フィルム厚さの測定スペクトル範囲 200nm 1100nm on sale
92% 高量子スペクトロメーターフィルム厚さの測定 高技術産業における薄膜の広範な使用は,高度な厚さ評価方法を必要としています.光電技術は,非侵襲的な,高効率のプロトコル機械学習とスペクトル分析を統合することで 製造者はフィルム特性に対する前例のない制御を達成し 製品革新を催促します JINS...
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