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通信用インタフェース最高の 500 グループのデータ記憶 Leeb の硬度のテスター Usb1.1 の
Leeb の硬度の測定法に従う Leeb の硬度のテスターは速くそしてすぐにある場合もあります
いろいろな金属材料を測定し、直ちに測定された硬度の価値を表示して下さい。 そしてそれはできます
素早く異なった硬度のスケールの硬度の価値を変えて下さい。
表示された価値の間違いそして反復性は次 Table1-1 を見ます。
表 1-1
|
いいえ。 |
タイプの影響装置 |
Leeb の標準の硬度の価値 硬度のブロック |
表示された価値の間違い |
反復性 |
|
1 |
D |
760±30HLD 530±40HLD |
±6 HLD ±10 HLD |
6 HLD 10 HLD |
|
2 |
DC |
760±30HLDC 530±40HLDC |
±6 HLDC ±10 HLDC |
6 HLD 10 HLD |
|
3 |
DL |
878±30HLDL 736±40HLDL |
±12 HLDL |
12 HLDL |
|
4 |
D+15 |
766±30HLD+15 544±40HLD+15 |
±12 HLD+15 |
12 HLD+15 |
|
5 |
G |
590±40HLG 500±40HLG |
±12 HLG |
12 HLG |
|
6 |
E |
725±30HLE 508±40HLE |
±12 HLE |
12 HLE |
|
7 |
C |
822±30HLC 590±40HLC |
±12 HLC |
12 HLC |
1.測定範囲: HLD （170|960） HLD
2.測定の方向: 0°~360°Hardness スケール: HL、HB、HRB、HRC、HRA、HV、HS
3.表示: 区分 LCD
4.データ記憶: 最高 5 つの00グループ。（影響の時間に関連して32~1）
5.印刷紙: 幅は（57.5±0.5） mm の直径です 30mm です。
6.電池のパック: 6V NI-MH
7.充電器: 9V/500mA
8.連続的な働く期間: 約 150 時間（バックライト、印刷無しと）
9.通信用インタフェース: USB1.1
主要出願:
1.型のキャビティは死にます
2.軸受けおよび他の部品
3.圧力容器、蒸気発生器および他の装置の失敗の分析
4.重い仕事の部分
5。 設置済み機械類および永久に組み立てられた部品
6.小さい空スペースのテストの表面
7.金属材料の倉庫の物質的な同一証明
8.大きい範囲の急速なテストおよび大規模な仕事の部分のための複数の測定区域
写真の参照
