技術的な変数
モデルいいえ。		Leeb230
測定の主義		Fe
測定範囲（µm）		0~1250μm
調査		可変性
貝		金属
正確さ		± （1~3%H+1） μm;Hは試験片の厚さを示す
最低の決断（µm）		0.1μm
最小面積（mm）の最低の湾曲		Convex1.5 Concave9
最小面積（mm）の直径		Φ7
基質（mm）の重大な厚さ		0.5
記憶		300グループはデータを測定した
次元		1157030mm
電源		AAAのアルカリ電池
標準的な構成		主要な機械、1つの調査及びsubstrate*1、 5つの口径測定の標本（48.5μm、99.8μm、249μm、513μm、1024のμm）
任意付属品		調査、標本

測定の主義

磁気測定方法（Feの調査と）

磁気基質の測定の非磁気コーティング（鋼鉄のアルミニウム、クロム、銅、ゴム製コーティング、鉄、合金および堅い磁気鋼鉄基質のような）。

カバー、測定の調査および磁気金属のマトリックスの形態が付いている調査の接触が非磁気層の存在の結果として閉鎖した磁気回路、磁気回路磁気抵抗の変更を行なうとき、コーティングの厚さは変更の測定によって得ることができる。

基質

a) テストされる磁気基質の金属の磁気特性および表面の粗さのための標準的な方法は磁気基質の金属ととどまるべきで、表面の粗さは類似している。渦電流方法のために、金属のマトリックスの電気特性の標準的な部分、およびテストされる金属の電気特性と同じような基質ととどまるべきである。利用できる標準的な部分の適用の可能性を確認するため

母材のそして読書によって測定される基質の金属の比較のテストの下の標準的な部分。

b) テストの下の基質の厚さ金属片が表1で規定される重大な厚さより多くでなければ次の2つの方法は口径測定に使用することができる:

1）基質の厚さの金属のオン破片の口径測定の標準同じテスト金属片との滞在;

2）同じような金属はさみ金の金属の標準または標本の十分な厚さ、電気特性、しかしそれと整理なしで母材とはさみ金の金属の間で作られなければならない。双方でクラッディングの標本を、はさみ金方法を使用できない持ちなさい。

c) テストの下のコーティングの湾曲が達したら口径測定は平面でできなかったり、口径測定ホイルの下で標準的な部分または基質の金属の湾曲の湾曲のカバーの層が、である標本の湾曲との同じある。

5つの口径測定の標本（48.5μm、99.8μm、249μm、513μm、1024のμm）

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