技術的な変数
モデルいいえ。		Leeb250A
測定の主義		Fe
測定範囲（µm）		0~1250μm
調査		解決される
貝		プラスチック
正確さ		± （1~3%H+1） μm;Hは試験片の厚さを示す
最低の決断（µm）		0.1μm
最小面積（mm）の最低の湾曲		Convex1.5 Concave9
最小面積（mm）の直径		Φ7
基質（mm）の重大な厚さ		0.5
記憶		200グループはデータを測定した
次元		1155523mm
電源		AAAのアルカリ電池
標準的な構成		主要な単位、5つの口径測定の標本（48.5μm、99.8μm、249μm、513μm 1024のμm）、1つの調査及び基質
任意付属品		調査、標本、1つの革外装

トラブルシューティング

言う次のエラー情報のテーブル識別し修理する方法を:

エラー・コード	エラー・コードの含意	原因および解決
E02	調査または器械の損傷	修理調査か器械
E03	調査または器械の損傷	修理調査か器械
E04	測定値は大きい変動行われる（例えば時柔らかい層の測定）; 磁界の効果	測定のmenton時薄紙表紙の補助装置への測定は採用されるべきである;を避けなさい強磁場の環境
E05	電話がつけられる場合の金属の基質からの調査に余りに近い	金属の基質からの調査
E08	調査または器械の損傷	修理調査か器械
E11	調査モデルに相当する元のデータのこのグループに従った調査モデル	適した調査を取り替えなさい未使用のグループの単位を選びなさい再度口径測定の後の削除
E15	ゼロ偏差は余りにも大きい、ゼロであるには場合もない	適切な基質か修理装置を選びなさい
E20	口径測定の価値のための単位のこのセット	未使用のグループの単位を選ぶか、または口径測定の後で再度削除しなさい

良質装置箱:

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解決されたFeの調査のコーティングの厚さゲージのフィルム厚さのテスター

Leebの硬度のテスター