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壁の洗浄ランプのための高い発電36v 30ma 180lm PPT Smd 3030の導かれた破片
適用紹介:
また多くのタイプの長いストリップ、円形、正方形、長さおよびサイズを含む壁の洗浄ランプが、ある。それらは異なった形の造る取付けそして使用のために適している。制御モードはまた元のマスター スレーブ コンピュータから接続したオフ・ラインか組込み制御を支えるために制御を成長した。設置モードはまた無線DMX制御を支える。ランプのビードの照明効果チャネルはまた元の慣習的な3つのチャネルから4つから20のチャネルに効果を形づける別の色を達成し、大きい建物のための全く異なる視覚効果を作成するためにランプのビードの各グループが自由に照明効果を形成できるように、改善された!
高い内腔36V 30MA 180lm 3030 PPT SMD LEDの破片は壁の洗浄ランプのために使用した
速い細部:
| 入れられた電圧（V）: | 36V |
| 保証（年）: | 2年 |
| タイプ: | Smdは破片3030を導いた |
| 解決サービスをつけること: | 照明および回路部品の設計 |
| 発光効率（lm/w）: | 180lm |
| 寿命（時間）: | 50000 |
| 作業時間（時間）: | 20000 |
| 破片材料: | INGAN |
| 色を出すこと: | 暖かく白く/自然なWhite/COOLの白 |
| 力: | 1W |
| 視野角（°）: | 120度 |
| 演色評価数（RA）: | 80 |
| 色温度: | 2700-6500K |
| 原産地: | 蘇州、江蘇 |
| 適用: | 体育館ライト |
| パッケージのタイプ: | Sufaceの台紙のパッケージ |
| 前方流れ: | 30MA |
| サイズ: | 3.0*3.0*0.7mm |
| パッキング: | 4000 PC/ロール |
製品仕様書:
パッケージの構造:
絶対最高評価:
| 項目 | 記号 | 絶対最高評価 | 単位 |
| 前方流れ | 30 | mA | |
| 逆電圧 | Vr | 5 | V |
| 脈打った前方流れ | IFP* | 30 | mA |
| 電力損失 | PD | 0.5 | W |
| 実用温度 | 上 | -40~85 | ℃ |
| 保管温度 | TST | -40~85 | ℃ |
| 静電放電 | ESD | 2000年（HBM） | V |
| 接合部温度 | Tj | 120 | ℃ |
| LEDの熱抵抗 | Rthのs-j | 33 | ℃/W |
LEDの信頼度試験のリスト:
| テスト項目 | テスト条件 | 標準 | Qty （PC） | Ac/Re |
| 生命テスト | 25℃、1000Hrs@30mA | / | 20 | 0/1 |
| 高温 | 85℃、1000Hrs@30mA | / | 20 | 0/1 |
| 低温 | -40℃、1000Hrs@30mA | / | 20 | 0/1 |
| 高湿度熱 |
85℃、85%RH、 1000Hrs@30mA |
/ | 20 | 0/1 |
| 低温の貯蔵 | -40℃、1000Hrs |
JEITA ED-4701 200 202 |
20 | 0/1 |
| 高温貯蔵 | 100℃、1000Hrs |
JEITA ED-4701 200 201 |
20 | 0/1 |
| 温度周期 | （- 40' C 30mins--25' C （5mins）--100 ' C （30mins）、臨時雇用者の変更率:3+/-0.6' C/min） |
JEITA ED-4701 100 105 |
20 | 0/1 |
| 熱衝撃 | -40 ' C （15mins）--100 ' C （15mins）、変更の時間 <5mins> | MIL-STD-202G | 20 | 0/1 |
|
脈拍の生命テスト
|
Tp=1ms、DC=0.1、D=Tp/T @ 3×30mA | / | 20 | 0/1 |
| ESDテスト（HBM） | 2000V、200V/Stepの、前方及び逆テスト3times |
AEC （Q101-001） |
20 | 0/1 |
| はんだ付けする抵抗 |
260±5℃、10S、3times 前処理30℃、70%RH |
JEITA ED-4701 300 302 |
20 | 0/1 |
| 退潮IVの腐食 |
260±5℃、10S、1time 前処理30℃、70%RH、168Hrs |
/ | 20 | 0/1 |
| 判断の規準 | ||||
| 前方電圧VF | VFの最高増加 < 1=""> | |||
| 逆の現在のIR | IRの最高増加 < IRmax=""> | |||
| 光度IV | IV腐食 < 40=""> | |||
|
※は能力テスト規準をはんだ付けする:適用範囲は95%よりより少しではない 注:測定はテストされたサンプルが正常な包囲された条件に戻った後取られる（一般に2時間後で） |
||||
プロダクト プロセス:
