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11 年
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フラッシュメモリチップインテリジェントテストシステム
製品説明：
製品仕様：
技術仕様:
| 物理的特性 | |
| 装置サイズ | W400×H510×D520mm |
| 電源方式 | 交流 |
| 動作電圧範囲 | AC(220±10%)V 単相2線+保護接地 |
| 通常の作業消費電力 | 2KW |
| 使用温度範囲 | -30℃～150℃ |
| 保存温度範囲 | -20℃～60℃ |
| 動作湿度範囲 | 45%~75% |
| システム性能 | |
| 並行してテストできる粒子の数 | 1~8個 |
| テスト用にサポートされているフラッシュ ブランド | Micron、Intel、YMTC、Hynix、Toshiba、SandiskなどのSLC、MLC、TLC、Sandiskなど、QLCタイプのNAND Flashチップ粒子（範囲を拡大中） |
| サポートされるパッケージ サイズ | BGA152、BGA132 (カスタム拡張可能) |
| サポートされているフラッシュ プロトコル タイプ | ONFI/トグル インターフェース パーティクル |
| 対応電圧 | ハードウェア サポート V1.2、V1.8 オプション |
| サポートされる電圧プルオフ範囲 | ソフトウェア サポートは vcc2.3 ～ 3.6 の微調整が可能 vccq1.2 1.15~1.25 vccq1.8 1.70~1.95 |
| オプションの試験範囲をサポート | 開始ブロック数、ブロック間間隔、サイクル数、試験時間などを個別に設定 |
| サポートパターン | すべて 0、すべて 1、すべて 5、疑似ランダム、チェッカーボード グリッド、ワード ライン ランダムなど。 |
| テスト コマンド タイプのサポート | フラッシュメモリ情報検査 フラッシュ メモリのパフォーマンス テスト 寿命試験と予測 品質クラス分類 データ干渉テスト データ保持テスト 読み取り再試行機能 寿命試験と予測 ECC のカスタマイズ |
| 並列試験速度 | 長寿命のウェリントンペレットベーステストの例として: バランスモード：128GB ※8粒程度1時間 フルモード：約128GB×8ペレット2時間 高速モード：約128GB×8ペレット20分 |
| インテリジェント・テスト・モジュール | 基本的なテスト 実験的テスト 高度なテスト |
当社の紹介:
HAIDA INTERNATIONAL は、24 年以上にわたるさまざまな種類の試験装置の専門メーカーです。HAIDA製品は、紙製品、包装、インク印刷、粘着テープ、バッグ、履物、皮革製品、環境、おもちゃ、ベビー用品、ハードウェア、電子製品、プラスチック製品、ゴム製品、その他の産業で広く使用されており、すべての科学に適用できます研究ユニット、品質検査機関、学術分野。
