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HZ-7004Bはゴム製低温のもろさのテスターを加硫させた
低温のもろさのテスター装置の概観:
HZ-7004タッチ画面は加硫させたゴム製標本が指定条件の下の影響によって損なわれるときゴム製低温のもろさのテスターを最も高い温度、すなわち、壊れやすい温度を定めることである加硫させた。低温の条件の下のnon-rigidプラスチックそして他の伸縮性がある材料の性能は比較することができる。異なったゴム製材料または公式のもろさの温度および低温の特性は測定することができる。従って、材料およびプロダクトの質を検査し、工程を制御することは必要である。
低温のもろさのテスターの塗布の企業:
ゴム製企業
低温のもろさのテスターの技術的な変数:
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モデル |
HZ-7004B |
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テスト温度 |
-60℃--0℃ |
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影響の速度 |
2m/s ±0.2m/s |
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温度の変動 |
<±0.5℃ |
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打撃粉砕機の中心からのホールダーの低価格への間隔 |
11±0.5mm |
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形づけなさいサイズ（長さ*幅*高さ） |
1100*800*800mm |
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内部の部屋のサイズ（長い*幅*高さ） |
300*250*400mm |
低温のもろさのテスター テスト標準:
低温のもろさのテスター装置主義:
装置は凍結媒体にホールダーを、そしてある特定の時間の間それを握った後標本を運転する、主要なシリンダーを通して持ち上げるホールダーを押す、そして二次シリンダーは影響プロセスを制御し、サンプルの損傷の程度を観察し、そして繰り返されたテストに合格する。失敗のない少なくとも2つのサンプルの最低の温度および少なくとも1つのサンプルの最高温度は定められる。2つの結果間の相違が1つの℃より大きくなければ、テストは終了する。
低温のもろさのテスターはイメージを詳しく述べた
