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LR-Q010 8位置独立制御キー寿命試験機
1. 製品の説明
この装置は主に携帯電話、マウス、キーボード、リモコンなどのシリコンボタンや金属バネボタンの寿命試験、マイクロスイッチやラバースイッチの寿命試験に使用されます。あらゆる種類のボタンの寿命に適用されます。
2.仕様
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テストステーション |
8駅 |
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テスト速度 |
1分間に0~60回まで調整・設定可能 |
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テストストローク |
0~10mmまで調整可能 |
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テスト数 |
カウントとストップを任意に設定可能、パワーオフメモリー保護機能付き |
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アクションモード |
電動でキーヘッドを動かし操作します。 |
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試験重量 |
50g、100g、200g、300g、500g |
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テストフィクスチャ |
治具は御社が提供するサンプルに基づいて作成され、柔軟に調整できます |
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電源 |
AC220V 50Hz |