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テストの非Dimmableランプまたは電子スイッチFig8のためのテスト回路
標準:
非dimmableランプか電子スイッチをテストするためのテスト回路はIEC62560節15図8.に従って製造される。
標準的な記述:
15.Abnormal操作
自己ballastedランプは異常な作動条件の下で危険を作成しない。
自己ballastedランプは異常か不注意な操作の結果として、火の危険および感電に対する保護の安全を損なう機械損傷が取り除くように組み立てられる。
直径または電子スイッチのApplingの非dimmable自己ballastedランプは異常な操作の可能な例としてテストされるべきである。
試験手順:
図8.で示されているテスト回路のテスト非dimmableランプ。
最高が私r.m.s起こるR1およびS1設定を定めなさい。
ランプが60分の内に受動的に壊れればこの状態のテストは10%より低いI r.m.sで、テストを繰り返し。より低いIつr.m.sは減少した電位差計の抵抗の方向で置かれる。
安定した操作が最低のために60 min.達成されるまでこのプロシージャを繰り返しなさい。
上で作動させなさい最も煩わしい薄暗くなるレベル（電位差計の調節）でランプのfpr 8Hを
承諾:
承諾はサンプル自由な燃焼の作動によって点検される、位置の上のまたは非常に熱い位置の縦の帽子は室温と評価される電圧で包装で示した。
電圧範囲が宣言されれば、テストはその宣言された範囲の中間の電圧で遂行されなければならない。
代わりとなる評価される電圧の場合には、テストは各々の評価される電圧のために別に行われる。
このテストの間にランプは火をつかまえない、または可燃性ガスを作り出せば生きている部品は標準的なテスト指と入手しやすくならない。
通知:
1. 電気器具の形を損なってはいけない（負傷、曲がること、等のような）。
2. 酸化を次元の正確さに影響を与えるために避けるために塵および湿気の環境から防がれる。
