IEC60884-1 負荷電流のステップレス調整 192 サイクル スクリューレス端末老化プラグソケットテスト

IEC60884-1 負荷電流のステップレス調整 192 サイクル スクリューレス端末老化プラグソケットテスト

標準でプラグソケットテスト:

IEC 60884-1 "家庭用および類似用途のプラグと電源出口" 第1部分:一般要件 第12項3.11.

プラグ・ソケット・テスターの製品特性:

適合は,次の試験 (a) と (b) によって確認され,他の試験に使用されていない5つのスループなしの電源出口端末に実施される.

両方の試験は新しい銅導体で行われます.

a) The test is carried out loading the screwless terminals for 1 h with an alternating current as specified in table 10 and connecting rigid solid conductors 1 m long having the nominal cross-sectional area as specified in the same table.

試験は各ブランキングユニットで行う.

表 10 試験電流は,スクリューレス端末の通常の使用における電気的および熱的ストレスの検証のために

試験中に電流はソケット出口を通さないが,端末を通るだけです.

この期間を経た直後,各スクリューレス端末の電圧低下は,定電流で測定される.

低電圧が15mVを超えてはならない.

測定は,各螺栓のない端末を横断して,接触地点にできるだけ近くに行う.

端末のバック接続がアクセスできない場合,製造者は標本を適切に準備することができる.端末の動作に影響されないように注意しなければならない.

測定を含む試験期間中,導体と測定装置が顕著に動かないように注意しなければならない.

(b) 前回の試験 (a) で指定された電圧低下の測定の対象となった螺栓のない端末は,次のように試験する.
試験中に,表10に示す試験電流値に等しい電流が通過する.

試験装置全体,電導体を含む電圧の減少の測定が完了するまで移動してはならない.

端末は,それぞれ約1時間続く192回の温度サイクルに服します.
流量約30分
更に約30分間,電流が通らない.

各螺栓のない端末の電圧低下は, (a) の試験に規定されるように,24回の温度サイクルごとに,および192回の温度サイクルが完了した後で決定する.

低電圧は,22,5 mVを超えてはならない.または第24回サイクル後に測定された値の2倍以上である.

この試験後,追加放大なしで正常視力または修正視力による検査では,亀裂,変形などのさらなる使用を明らかに妨げる変化が示されない.

さらに,機械的強度試験は,第12項に準拠する.3.10は繰り返され,すべての試料がこの試験に耐えなければならない.

適用すると プラグソケットテスト:

試験用 試験用 試験用 試験用 試験用 試験用

試験サンプルと プラグソケットテスト:

スクロールなしの端末

パラメーター プラグソケットテスト:

製品画像プラグソケットテスト:

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