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基盤GU5.3の細部については、シート7004-109を見て下さい。
目的:次の点の基盤GU5.3を点検するため:
-個人ピン（E）次元の直径;
-ピン（DおよびE）次元の結合された変位そして直径;
-ピン（F）次元の長さ;
-次元SmaxおよびHmax;
-次元W.内のセメントの正当な集結。
テスト:基盤の表面Qがゲージの表面Rに触れるまで穴e1に基盤の各々の個々のピンを挿入することは可能です。
穴e2に各々の個々のピンを挿入することは可能ではないです。
穴e.に両方のピンを同時に挿入することは可能です。
基盤の表面Qがゲージの表面Qと接触してあるまで表面Qで入るピンが付いているゲージに基盤を挿入することは可能です。
この位置では、ピンの端は共同プレーナーとのまたはプロジェクトのbeyoundの表面Xでが、表面Y.を越えて写し出しません。
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