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1) 非入手の可能性を点検するための1Nテスト ゲージ
IEC 60884-1図10 -高められた保護と生きている部品の、シャッターを通して、そしてソケット出口の生きている部分の非入手の可能性を点検するためのゲージ。
0620-1:2010-02 LehreはIEC 60884-1図10、DIN VDEに13等合致します。
2) 非入手の可能性を点検するための20Nテスト ゲージ
IEC 60884-1図9 -シャッターを通した生きている部分の非入手の可能性を、点検するためのゲージ。
0620-1:2010-02 LehreはIEC 60884-1図9、DIN VDEに15等合致します。
限られるHKリーHINGの企業CO.は国際的な標準および提供の口径測定サービスおよび関連情報によって製品のテストのための製造の特別な、特注の、テストおよび測定装置を専門にします。研究及び開発の確立、テスト ラボ、防衛体制、政府の施設及び製造工業によって私達の製品とサービスが顧客の条件を達成するのに使用されています。
主要なプロダクト:行きまゲージ、IPのテスター、テスト調査のキット、衝撃試験装置、テスト調査、ばねのハンマー、IEC 61032テストは指、AC Hipotテスター、IECテスト調査、ULテスト調査、物質的な燃焼性のテスター、IPコード テスター、衝撃試験の器具、保証試験機、プラグおよびソケット出口のゲージ、ランプの帽子のゲージのテスター、ソケット ゲージのテスター、プラグ及びソケットのテスター、電気安全テスター、LEDテスト器械、環境試験装置、器械の付属品行き、センサーおよび多くの重量を量ります。
装置がスイッチのような家庭電化製品、電気付属品、ソケット、産業コネクター、等及び道の照明照明器具のようなプロダクトを、自動車照明装置または関連の部門テストするように要求すれば、私達はあなたが必要とする解決を提供してもいいです。
私達は私達のウェブサイトのレイアウトの設計、提示または他の面のあなたのコメントを認めます。
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