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Sireda Technology Co., Ltd.

シレダ・テクノロジー株式会社

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高周波IC検証用オープントップ精密RFテストソケット

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高周波IC検証用オープントップ精密RFテストソケット
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モデル番号 :トップを開きます
原産地 :中国
最小注文数量 :1
ピッチ :≥0.3mm
帯域幅 :80g
ピンカウント :2-2000+
互換性のあるパッケージ： :BGA、QFN、LGA、SOP、WLCSP
ソケットタイプ :トップを開きます
導体タイプ :プローブピン、ポゴピン、PCR
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高周波IC検証用精密RFテストソケット

マイクロ波およびミリ波アプリケーション向けに最適化された当社のRFテストソケットは、最大80GHz+までの優れた信号完全性を、最小限の挿入損失で実現します。インピーダンス整合設計と高密度RFシールドを特徴とし、これらのソケットは、ラボ環境と製造環境の両方で、5G、レーダー、および衛星通信ICの正確なテストを保証します。

高周波IC検証用オープントップ精密RFテストソケット 高周波IC検証用オープントップ精密RFテストソケット

検証済みの性能データを持つ精密RFテストソケット

高周波IC検証用オープントップ精密RFテストソケット

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