自動最終試験 (FT) アプリケーションのためのプレミアム ATE IC 試験ソケット
高性能のATEIC試験ソケットは,最終テスト (FT) 段階の自動化試験機器 (ATE) システムのために特別に設計されており,メモリのための超信頼性の高い接触性能を提供します.論理大量生産のテストです
- ✔自動処理に最適化 - 処理量を最大化するために,ピックアンドプレースATEシステムとシームレスな統合のために設計されています
- ✔ 精密 テスト コンタクト - 高 サイクル の ポゴ ピン や スプリング 探査機 の オプション は,数千 の テスト サイクル を 通し て 安定 し た 電気 接続 を 確保 する
- ✔ FT 段階の信頼性 - 信号の完整性と繰り返しが重要な最終テスト (FT) プロセスで使用するために厳格に検証されています
- ✔ メモリ&生産準備 - 一貫した検証を必要とするDRAM,フラッシュ,SoC,および他の大容量のICに最適
2つのDUTソケット
1 つのDUTソケット
主要な特徴と利点:
- 優れた耐久性 - 数千回挿入する耐久性のある素材で高サイクル試験のために構築
- 幅広い互換性 - BGA,QFN,SOP,その他のICパッケージをサポート
- 精密接触技術 - 信頼性の高い電気接続のための低抵抗のスプリング探査機またはポゴピン
- カスタム構成 - 独自のIC設計と試験要件に合わせた試験装置
- 熱と高周波オプション - 燃焼,高温,RFテストのための専門ソケット
さらにオプションやカスタム要求については,下記の詳細を参照してください または私たちのエンジニアと連絡してください.
カスタムテストソケット: 基本仕様
| 資産 |
パラメータ |
典型的な価値 |
| メカニカル |
挿入サイクル |
≥30K〜50Kサイクル |
| 連絡力 |
20〜30g/ピン |
| 動作温度 |
商業用 -40 ~ +125
軍事 -55 ~ +130 |
| 許容性 |
±0.01mm |
| 電気 |
接触抵抗 |
<50mΩ |
| 阻力 |
50Ω (±5%) |
| 流動 |
1.5A~3A |
ICテストソケットソリューション - 要求の高いアプリケーションのための精度テスト
プロトタイプを検証したり ICをプログラムしたり 大量の生産テストを実行したり 精度と可複性を保証します 困難な環境のために設計されています私たちのソケットは,安定した接触抵抗を維持しながら,熱圧下で曲げを防止するための頑丈な機械的な設計を備えています自動化処理とテストと互換性があり,ダウンタイムを削減しながら 検証プロセスを簡素化します.
