Sireda Technology Co., Ltd.

シレダ・テクノロジー株式会社

Manufacturer from China
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2 年
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Sireda Technology Co., Ltd.
シティ:shenzhen
国/地域:china
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半導体試験のための高温オープントッププログラミングIC試験ソケット

半導体試験のための高温オープントッププログラミングIC試験ソケット
  • 半導体試験のための高温オープントッププログラミングIC試験ソケット
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製品の詳細
要求の厳しい半導体試験向けのプレミアムオープン型バーンイン&プログラミングテストソケット 高温環境(最大130℃以上)での信頼性を考慮して設計された当社のバーンインテストソケットは、ICプログラミングとテストの長時間サイクル中に一貫した性能を保証します。特徴: 特定のICパッケージ(BGA、QFN...
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