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HUATEC GROUP CORPORATION

HUATEC GROUP CORPORATIONは,この2つのグループを構成しています プロの非破壊性試験装置

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75 マイクロン 無形シリコン A Si 様々な分野用 A Si DR 非破壊性試験

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75 マイクロン 無形シリコン A Si 様々な分野用 A Si DR 非破壊性試験
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モデル番号 :H2317HSC-CG
産地 :中国
最低注文量 :1
パッケージの詳細 :標準カートンパッケージの輸出
材料 :アモルフシリコンセンサー
温度 :10~35°C (運用) 10~50°C (保管)
湿度 :RH 30~70% (凝縮しない)
製品名 :DR デジタルフラットパネル検出器
レセプタータイプ :Si
シンチレーター :CsI:TI
アクティブ エリア :230.4 x 172mm
ピクセルピッチ :75μm
決議 :3072×2304
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75 マイクロン 無形シリコン A-Si 様々な分野用 A-Si DR そして非破壊試験

 

H2317HSC-CG 無形シリコンセンサーをベースにした軽量平面パネル検出器で,X線検出に適しています

 

センサー
レセプタータイプ a-Si

スキンチラター CsI:TI

アクティブエリア 230.4 x 172 mm

決議3072x2304

ピクセルピッチ 75 μm

 

電源とバッテリー

アダプター AC 100-240V,50-60Hz

アダプター 24V DC2.7A

電力消耗 < 20 W

 

画像品質
制限解像度 5.9 LP/mm

エネルギー範囲 40〜150KV

動的範囲 ≥76 dB

感度 ≥0.54 LSB/nGy

Ghos <1% 1番目のフレーム

 

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