HUATEC GROUP CORPORATION

HUATEC GROUP CORPORATIONは,この2つのグループを構成しています プロの非破壊性試験装置

Manufacturer from China
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139 マイクロン 無形シリコン A Si DR 非破壊試験などの様々な分野向け

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139 マイクロン 無形シリコン A Si DR 非破壊試験などの様々な分野向け

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モデル番号 :H3543HWC-EG
産地 :中国
最低注文量 :1
パッケージの詳細 :標準カートンパッケージの輸出
材料 :アモルフシリコンセンサー
温度 :10~35°C (運用) 10~50°C (保管)
湿度 :RH 30~70% (凝縮しない)
製品名 :DR デジタルフラットパネル検出器
レセプタータイプ :Si
シンチレーター :GOS / CsI:TI
アクティブ エリア :350 × 430 mm
ピクセルピッチ :139 μm
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139 マイクロン 無形シリコン A-Si DR と非破壊性試験などの様々な分野に使用

 

H3543HWC-EGは,無形シリコン (a-Si) をベースにした軽量無線検出器で,DRや非破壊試験などの様々な分野に適しています.

 

センサー
レセプタータイプ a-Si

スチンチラター Gos / CsI:TI

活性領域 350 x 430 mm

解像度 2560 x 3072

ピクセルピッチ 139 μm

 

電源とバッテリー

アダプター AC 100-240V,50-60Hz

アダプター 24V DC2.7A

電力消耗 < 20 W

待機時間 6.5 h

充電時間 4.5 h

 

画像品質
制限解像度 5 LP/mm

エネルギー範囲 40〜160KV

動的範囲 ≥76 dB

感度 ≥0.36 LSB/nGy

Ghos <1% 1番目のフレーム

DQE 38% @(1LP/mm)

21% @(2 LP/mm)

MTF 75% @(1 LP/mm)

48% @ (((2 LP/mm)

28% @(3 LP/mm)

 

 

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