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電磁誘導信号校正 デュアル周波数渦電流試験装置
HUATEC HEF-600シリーズは、当社の新しい渦流探傷器で、従来の渦流、磁気記憶(オプション)、厚み計(オプション)、導電率測定(オプション)、硬度計の4つの機能を統合した装置です。並べ替え (オプション)、ユーザーはさまざまなニーズに基づいて適切な機能を選択できるため、検出のコストを効果的に削減できます。同時に、機器には強力なデュアルコアプロセッサ、組み込みオペレーティングシステムが装備されており、最先端のデジタル電子技術、磁気メモリテスト技術、およびマイクロプロセッサ技術を使用しており、金属材料の金属欠陥を検出し、合金の種類と熱処理条件、厚さの変化など。すべての設定とメニューオプションを表示するメニューがあり、非常に実用的で操作が簡単な多機能ポータブル渦電流試験装置ですが、電気伝導率測定、非金属コーティングの厚さも実行できます。
検出周波数範囲:50Hz~10MHz、ゲイン:0~90.0dB、位相:0~359度、リフトオフ位相の設定、絶対・微分検査におけるバランス荷重の選択など、幅広い検出ニーズにお応えします。小型軽量で、パッケージ デザインは人間工学の要件を満たしています。高性能の充電式リチウム電池を内蔵しており、電池は12時間以上連続して動作できます。そのため、階段を上ったり、狭い入り口に押し入ったり、高所で作業したりするフィールド エンジニアにとって理想的です。大画面で高解像度のカラー LCD ディスプレイは、どんな照明条件でもはっきりと見ることができます。
楽器は「ばか」操作を実現できます。必要な検出タスクに応じて、周波数、ゲイン、位相などのプロセス パラメータが専門家によって事前設定されます。実際の測定では、対応するテスト プロセス パラメータをいつでも調整できます。オペレータは、特別なトレーニングなしで長期間作業できます。
このポータブル機器は、航空、航空宇宙、電力、石油化学で、クーパー、チタニアム、アルミニウム、ジルコニウム、その他の測定の使用中のテストに使用できます。ワークピース材料の不均一性、堆積物、汚れによって引き起こされる干渉の兆候を抑えることができますより良い精度を得るために振ってください。完全なデジタル設計により、ユーザーが検査を受けるために、機器に標準的なテスト手順を設定することが可能です。
2. パラメータ
■大画面・高精細10.4型カラー液晶
*周波数番号: デュアル周波数
*周波数範囲: 10 Hz ~ 10 MHz、ステップ サイズ: 1 / 5 / 10
* ハードウェア ゲイン: 0 ~ 40 dB、最小ステップ 0.1 dB、ソフトウェア ゲイン: 0 ~ 99 dB、最小ステップ 0.1 dB
*位相: ギアごとに 0 ~ 359 ° および 1 °
*表示モード: インピーダンス、タイムベース、点と線
*値とグラフィック用に 30GB のデータ ストレージ
※OS:Linux3.0
※操作言語:英語
*簡単な操作、リアルタイムの画面プロンプト、マンマシン対話
* オンラインのホットキー グラフィックとテキスト ヘルプ。
*デジタルフィルタリング:ハイパスとローパスの周波数を設定可能
※フィルター係数:0~4000
*クイックデジタル電子天秤
*自動/手動振幅および位相測定
※警報窓:扇形、長方形、円形
*直交座標系と極座標系の背景選択
*自動カレンダーと時刻表示
*電源:110V~220V(-20%~+20%)50~60Hz、消費電力10W
*充電式リチウム電池内蔵
*アダプター要件:DC15.6V、6A
*バッテリー電源時間:≥8h
*作業温度:-10℃ -50℃
*相対湿度:≤80%
*サイズ (幅*高さ*高さ):320mm X 235mm X 103mm
*重量: 3kg、バッテリーを含む
*USBポート:2ポート
※RS-231ポート:1ポート
※映像出力:標準VGA出力
※警報出力:8
※スタート入力:8
※エンコーダ入力:1
*テストチャンネル:1-4
*プローブドライブ:1-16
※表示モード:フルカーブ、ブランキング
※検波:全波、正半波、負半波、RF波
※ウェーブフィルター:3段フィルター
3. 基本的な原則
渦電流探傷器は、導電性材料に適した電磁誘導の原理に基づく非破壊検査方法です。導体を交番磁界内に置くと、導体に誘導電流、つまり渦電流が発生します。導体自体のさまざまな要因(導電率、透磁率、形状、サイズ、欠陥など)の変化により、誘導電流が変化します。この現象を利用して、導体の性質、状態、欠陥を判断することができます。
渦電流探傷器は、交流電流で導体をコイルに近づけ、コイルにより交番磁界を発生させます。交番磁界は導体を通過し、電磁誘導によって導体内に渦電流が発生します。導体内の渦電流も独自の磁場を生成します。渦電流磁場の影響により、元の磁場の強度も変化し、コイル電圧とインピーダンスが変化します。したがって、導体表面またはその近くに欠陥がある場合、または測定される金属材料が変化すると、渦電流の強度と分布が影響を受けます。渦電流の変化により、検出コイルの電圧とインピーダンスが変化します。この変化により、導体の欠陥の有無や金属材料の性能が変化したかどうかを間接的に知ることができます。
4.モデルガイド
サポートされる機能またはモード | HEF-600(ベーシック) | HEF-600C(導電+コーティング) | HEF-600S(スキャナー) | HEF-600D(二周波) |
信号校正 | √ | √ | √ | √ |
リアルタイムの読み取り | √ | √ | √ | √ |
アプリケーションの選択 | √ | √ | √ | √ |
各種プローブ対応 | √ | √ | √ | √ |
導電率と膜厚測定 | √ | √ | √ | |
ロータリースキャナー | √ | √ | ||
デュアル周波数 | √ |
5. 標準パッケージ
本体
ケーブル付溶接検査プローブ
校正ブロック炭素鋼
校正証明書
取扱説明書
充電ケース
6. オプション品
各種材料校正ブロック
さまざまなアプリケーション用のさまざまなプローブ