低ノイズ TLC271CP アンプ プログラマブル IC チップ 18 V 電源電圧

株式公開（ホットセル）

TLC271、TLC271A、TLC271B

LinCMOS^TMプログラマブル低消費電力オペアンプ

• 入力オフセット電圧ドリフト ...通常 0.1 μV/月 (最初の 30 日を含む)
• 指定された温度範囲にわたる広範囲の電源電圧:
  • 0℃～70℃。。。3V～16V
  • –40℃～85℃。。。4V～16V
  • –55℃～125℃。。。5V～16V
• 単一電源動作
• コモンモード入力電圧範囲は負レール以下に拡張(C-SuffixおよびI-Suffixタイプ)

• 低ノイズ 。。。25 nV/√Hz 通常、f = 1 kHz (高バイアスモード)
• 出力電圧範囲には負のレールが含まれます
• 高入力インピーダンス。。。10¹²Ω標準値
• ESD保護回路
• 小型アウトラインのパッケージ オプションはテープ アンド リールでも利用可能
• 設計されたラッチアップ耐性

説明

TLC271 オペアンプは、幅広い入力オフセット電圧グレードと、低オフセット電圧ドリフトおよび高入力インピーダンスを組み合わせています。さらに、TLC271 は、ユーザーが特定のアプリケーションに対して消費電力と AC 性能の最適な組み合わせを選択できるバイアス選択モードを提供します。これらのデバイスはテキサス・インスツルメンツのシリコンゲート LinCMOS を使用しています^TMこの技術は、従来のメタルゲートプロセスで得られる安定性をはるかに超えるオフセット電圧の安定性を提供します。

バイアス選択オプションを使用すると、これらのコスト効率の高いデバイスをプログラムして、これまで BiFET、NFET、またはバイポーラ技術が必要だった幅広いアプリケーションに対応できるようになります。低コストの TLC271 (10 mV) から TLC271B (2 mV) の低オフセット バージョンまで、3 つのオフセット電圧グレード (C サフィックスおよび I サフィックス タイプ) が用意されています。これらのデバイスは、非常に高い入力インピーダンスと低いバイアス電流に加え、優れたコモンモード除去と電源電圧除去を備えているため、新しい最先端の設計だけでなく、既存の設計のアップグレードにも適しています。

一般に、バイポーラ技術に関連する多くの機能が LinCMOS で利用可能です。^TMバイポーラ技術による電力ペナルティのないオペアンプです。トランスデューサのインターフェース、アナログ計算、アンプ ブロック、アクティブ フィルタ、信号バッファリングなどの一般的なアプリケーションはすべて、TLC271 を使用して簡単に設計できます。これらのデバイスは低電圧単電源動作も実現しているため、遠隔地やアクセスできないバッテリ駆動のアプリケーションに最適です。コモンモード入力電圧範囲には負のレールが含まれます。

高密度システムアプリケーション向けの小さなアウトラインやチップキャリアバージョンなど、幅広いパッケージングオプションが利用可能です。

デバイスの入力と出力は、ラッチアップを引き起こすことなく、-100mA のサージ電流に耐えるように設計されています。

TLC271 には、MIL-STD-883C、メソッド 3015.2 に基づいてテストされたように、最大​​ 2000 V の電圧での機能障害を防止する内部 ESD 保護回路が組み込まれています。ただし、ESD にさらされるとデバイスのパラメータ性能が低下する可能性があるため、これらのデバイスの取り扱いには注意が必要です。

C 接尾辞のデバイスは、0°C ～ 70°C での動作が特徴です。I サフィックス デバイスは、-40 °C ～ 85 °C での動作が特徴です。M 接尾辞のデバイスは、-55 °C ～ 125 °C の軍用温度範囲全体で動作することが特徴です。

動作時の自由空気温度における絶対最大定格 (特に指定のない限り)†

電源電圧、V_DD(注1を参照)。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。18V

差動入力電圧、V_ID(注2を参照)。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。±V_DD

入力電圧範囲、V_私(任意の入力) 。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。– 0.3V～V_DD

入力電流、I_私。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。±5mA

出力電流、I_○。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。±30mA

25°C (またはそれ以下) での短絡電流の持続時間 (注 3 を参照)。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。無制限

動作時の自由空気温度、T_あ:C サフィックス。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。0℃～70℃

私はサフィックスを付けます。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。– 40℃～85℃

M 接尾辞。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。– 55℃～125℃

保管温度範囲。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。– 65℃～150℃

60 秒間のケース温度: FK パッケージ。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。260℃

リード温度 1.6 mm (1/16 インチ) からケースから 10 秒間: D または P パッケージ。。。。。。。。。。。。260°C ケースから 1.6 mm (1/16 インチ) のリード温度、60 秒間: JG パッケージ。。。。。。。。。。。。。。。300℃

† 「絶対最大定格」に記載されているストレスを超えるストレスは、デバイスに永久的な損傷を与える可能性があります。これらはストレス定格のみであり、これらの条件または「推奨動作条件」に示されている条件を超えるその他の条件でのデバイスの機能動作は暗示されません。絶対最大定格条件に長時間さらされると、デバイスの信頼性に影響を与える可能性があります。

ノート：

1. 差動電圧を除くすべての電圧値は、ネットワーク グラウンドを基準としています。

2. 差動電圧は IN– に対して IN+ にあります。

3. 出力はいずれかの電源に短絡する可能性があります。最大損失定格を超えないように、温度および/または電源電圧を制限する必要があります (アプリケーションのセクションを参照)。