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適用範囲:
、交通機関および使用、器械および他のプロダクト、部品および材料高低の温度交互になる湿気および熱の環境の下で電気、電子の貯蔵のための適合試験に適当;それは風邪のための電子工学のようなさまざまな原料のための信頼できる試験装置そして部品、電気技師、電化製品およびプラスチック、熱、湿気および乾燥した耐性検査および品質管理工学です。光ファイバーのLCD、水晶、インダクタンス、サーキット ボード、電池、コンピュータ、携帯電話、等の高温、低温そして湿気周期テストのために特に適した。
標準:
EIA、ASTM、JIS、GB、ULのVDEテスト標準との承諾。
GB2423.1-89:（IEC68-2-1）低温テストAa、Ab;
GB2423.3-93 （IEC 68-2-3）:一定した湿気および熱テスト カリフォルニア;
GB2423.34-86:温度および湿気の1004.2コンバインドサイクル発電テストの方法。
電気および電子プロダクト テストBのための基本的な環境試験コード:高温テスト方法GB 2423.2-89 （IEC68-2-2）
電気および電子プロダクト テストDaのための基本的な環境試験の規則:交互になる湿気熱テスト方法GB/T423.4-93 （IEC68-2-30）
技術的な変数:
| 外箱の参照のサイズ | 1250 x930 X 950mm |
| 温度検出器 | 台湾P T-100の高精度センサーを採用して下さい |
| 温度較差 | -65、- 50、- 40 | +130 ºC |
| 湿気範囲 | 20 | 98% RH |
| 温度の変動の程度 | ± 0.5のºC |
| 温度の偏差 | 100 | +130 ºC、≤± 1.5のºC |
| 湿気の偏差 | ± 3.0% RH （>75% RH）の± 5.0% RH （≤ 75% RH） |
| 放射能冷却期間 | 1 | 1.5のºC/分 |
| 加熱時間 | RT | + 60分の130 ºC |
