Wuhan Liocrebif Technology Co., Ltd

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3 軸 FOG オプティカルモジュールテストシステム 1550nm オプティカルモジュールのジロレベルテスト精度

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Wuhan Liocrebif Technology Co., Ltd
シティ:wuhan
省/州:hubei
国/地域:china
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3 軸 FOG オプティカルモジュールテストシステム 1550nm オプティカルモジュールのジロレベルテスト精度

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モデル番号 :LKF-OMTS1550C
原産地 :中国
最小注文数量 :1
支払い条件 :T/T
供給能力 :10000
納期 :2〜4週間
パッケージングの詳細 :木製の箱/段ボール箱/容器
色と分類 :LKF-OMTS1550C
寸法 :45×14.7×45.2cm
ブランド :liocrebif
起源の場所 :中国
応用 :繊維コイルのジャイロレベルのテストと評価
出力形式 :RS422
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基本情報
最小注文数量(MOQ):1
仕様番号:LKF-OMTS1550C
製品紹介
はじめに

LKF-OMTS1550C FOG光モジュール試験システムは、1550nmの動作波長を持つファイバーコイルのジャイロレベルの試験と評価に使用できる、3軸高精度ジャイロバイアス試験システムです。その技術原理は3軸FOGと類似しており、角速度と温度データをシリアルポート経由で直接出力できます。特別な試験ソフトウェアを使用することで、光モジュールの実際の長さに合わせて長さパラメータを設定でき、データの記録、分析、保存が可能であり、バイアス、バイアス安定性などの重要な情報を取得できます。LKF-OMTS1550Cデバイスは、最大3つの光モジュールを同時に接続でき、互いに干渉することなく3チャンネルの試験を同時に実行できます。このシステムは、完全な機能、安定した性能、簡単な操作、および容易な出荷という利点があり、実用的な試験システムとなっています。

装置構成

LKF-OMTS1550C試験システムは、ファイバーコイル試験ユニット、RS422/USBアダプター、および特別な試験ソフトウェアの3つの部分で構成されています。このデバイスはアルミニウム合金3Uシャーシを使用して組み立てられ、RS422シリアルポート経由でデータを出力します。RS422/USBアダプターは、シリアルポートデータをUSBデータに変換し、コンピュータとの通信を容易にします。試験ソフトウェアは、Windows xp、7、10などのコンピュータOSと互換性があり、リアルタイムの取得、処理、および保存を可能にするウィンドウインターフェースを備えています。

LKF-OMTS1550C FOG光モジュール試験システム

性能仕様

波長

1550 nm

バイアス安定性(25℃)

最適≤0.01 °/時、(100秒、平均、光モジュール長に関連)

動作温度

(25±15)

測定可能温度

(-45 ~ +70)

測定可能光モジュール長

(800 ~ 3000) m、調整可能

試験時間範囲

1秒 ~ 30時間

電気/機械インターフェース

サイズ

~(450×147×452)mm

電源

220V、50Hz、AC

I/Oシリアルポート

RS422(デフォルト), RS232(オプション)

温度センサー

3、DS18B20、航空プラグ

テールファイバー

SMファイバー、2m、3チャンネル

主な特徴
優れたバイアス安定性£0.02°/時、(100秒, 平均, 最適、光モジュール長に関連)3つの試験チャンネル、各チャンネルは独立して動作動作波長1550nm試験時間範囲1秒~30時間測定可能光モジュール長800~3000m、ソフトウェアで設定可能
適用分野
ファイバーコイルのジャイロレベルの試験と評価

 

3 軸 FOG オプティカルモジュールテストシステム 1550nm オプティカルモジュールのジロレベルテスト精度



 
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