この機構はCISPR 11、CISPR 16-1-4、IEC 61000-3-2のANSI C63.4の免除のような標準に従ってテストを行ないます:IEC 61000-4-2、IEC 61000-4-3、IEC 61000-4-5、IEC 61000-4-6、IEC 61000-4-8およびIEC 61000-4-11。

II.テスト条件

行なわれた妨害、周波数範囲の測定:148.5kHz -30MHz

放射された妨害、周波数範囲の測定:30MHz-6GHz

倍音および規準に基づく明滅の測定:IEC 61000-3-2/3

標準に基づく行なわれた妨害への免除の測定:

1. IEC 61000-4-2:静電放電の免除テスト

2. IEC 61000-4-4:電気速いトランジェントの破烈の免除テスト

3. IEC 61000-4-5:サージ（影響）の免除テスト

4.IEC 61000-4-6:無線周波数分野によって引き起こされる行なわれた妨害への免除

5. IEC 61000-4-8:力の頻度磁界の免除テスト

6. IEC 61000-4-11:電圧すくい、短い中断および電圧変化の免除テスト

IV.システム構成

電磁適合性試験制度の全体セットは次のサブシステムで構成されます:

連続的な干渉の試験制度（伝導）

放射された妨害の試験制度

無線周波数分野によって引き起こされる行なわれた妨害への免除の試験制度

トランジェントによって行なわれる妨害への免除の試験制度

倍音および明滅の試験制度

各サブシステムの詳しい導入は党でII.参照されます。

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