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目盛りを付けられたIEC60335/IEC61032/IEC60950テスト指の調査および短いテストPinの調査
テスト指の調査および短いテスト ピン調査はIEC61032標準に従って設計されている。テスト指の調査は鋼鉄指、バッフルおよび絶縁されたハンドルから成っている。またテスト指の調査が基本的な保護を危険な部品へのアクセスに対して確認し、指を搭載するアクセスに対して保護を確認するのに使用されるのに使用されている。ピンはクラス0装置およびクラスII装置の危険な生きている部分へのアクセスに対して保護を確認するように意図されている（IEC60536を見なさい）。指の調査および短いテスト ピンの両方調査は電気ワイヤーとカスタマイズし、CNASの口径測定の証明書とある場合もある。
1. テスト指の調査の導入:
テスト指の調査はIEC61032図に従って設計2、UL507、UL1278図8およびEN60529図の条件を2.満たす。 10Nおよび50N力が付いているテスト指の調査は危険の部品からの人の指の保護のためにIP2Xのテスト、それのため意味するである。
2. テスト指の調査の指定:
| 指の直径: | 12mm | 指の長さ: | 80mm |
| バッフルの直径: | 50mm | バッフルの長さ: | 100mm |
| スラスター（任意） | 10Nか50N | ||
| 材料:絶縁体（バッフルおよびハンドル）、金属（指） | |||
3. 短いテストPinの調査の導入:
短いテストPinの調査はIEC61032図に従って9.設計されている。
4. 短いテストPinの調査の変数:
| テスト ピンの直径 | 頭部3mmの底4mm |
| テスト ピンの長さ | 15mm |
| バッフルの直径 | 25mm |
| バッフルの厚さ | 4mm |
| 材料 | 絶縁体、金属 |
5. パッケージ:
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