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Ф450mmの大きい開き横のレーザーの干渉計
アプリケーション領域
材料の光学的性質を、厚さのような、間隔測定しなさい;
より精密な変数内部材料を、光学均等性のような、r.i.、測定しなさい
表面の滑らかさ。
働き主義
レーザーの干渉計システムはレーザーの反射器、発振器、エンコーダー、走査器の出を、また含んでいる
検出、調節およびデータ出力のための電子回路そしてソフトウエア システム。
垂直を形作るために反射器および発振器を通して出るレーザーのパスによって出るレーザ光線
または横の注入のレーザ光線および参照のレーザ光線。それから、それはで反映され、干渉される
目的の表面は線形スキャンの測定のための外的な走査器に、循環され。基づく
前述のスキャン結果、エンコーダーのアウトプット データ。最後にコンピュータは速くおよび正確達成する
表面の粗さ、有効な形、等のような測定そして分析。
特徴
| モデル | INF-HL-450 |
|
明確な開き |
Ф450mm |
| Phase-shiftingモード | phase-shifting波長の調整 |
|
CCDの決断 |
1.2K*1.2Kピクセル/2.3K*2.3Kピクセル |
| 組み合わせ精度 | PVの≤ λ/20 |
|
システム反復性の正確さ |
RMSの≤ λ/2000 （2σ） |
| 注:利用できるカスタマイズされた生産。 | |
製品利便
→のデュアル ポートの試験制度および優秀な画像技術
作動し、使用すること容易な→の横の構成
解析システムを開ける→の波長の調整段階
私達の利点
私達は製造業者である。
私達はずっと中国の国民の科学技術の主要なプロジェクトを引き受けている。
私達は中国人のNationalMajorレーザー工学ずっとプロジェクトを引き受けている。
中国の光学社会のメンバー。
レーザー及び光電子工学の進歩の次長の単位。
戦略的提携の同盟をテストしている中国のメンバー。
24就業時間以内の応答。
私達のISOの証明
私達のパテントの部分
私達の賞の部分およびR & Dの資格