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半導体産業における応力複屈折測定システム検出装置

半導体産業における応力複屈折測定システム検出装置
  • 半導体産業における応力複屈折測定システム検出装置
製品の詳細
半導体産業における応力複屈折検出装置 アプリケーション UV-紫外線 半導体 光源原料メーカー 動作原理 物質の複屈折は、光の前後の偏光状態を比較することによって評価されます。 が対象物を透過し、サンプルの応力複屈折の大きさが計算後に決定されます。 特徴 モデル SBD-SX—X 作業モード リアル...
製品詳細図 →