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ベンチトップスペクトロフォトメーター
DS-39Dは独自の差光スペクトルエンジンを用いて,光入力量を50%増やし,スペクトル解像度を30%増やし,よりよい減算,ステーション間差,パフォーマンス表示を提供します.カメラの解像度は350%向上し,濃いサンプルの色は明るさ校正アルゴリズムで再構築できます.
ベンチトップスペクトロフォトメーター DS-39D
DS-39D:繰り返し性0.005インター・インストルメント・合意0.08
■ 電気灯とLEDの2種類の照明源を搭載
標準光源37個,測定指標40個以上
·4つのアペルチャーの自動認識
·温度と湿度計算の補償機能
·7インチタッチスクリーン,Androidオペレーティングシステム
● ColorExpert の強力なコンピュータデータ管理ソフトウェアを提供
· データをクラウドに保存し,アカウントをフォローして損失を防ぐことができます
■ PC端の輸出やデータテストレポートの印刷をサポート
· より多くの公式のインスピレーションを提供し,色マッチングの効率を向上させるための色マッチングソフトウェアをサポート
微分スペクトルエンジンは全体的な測定性能を向上させる
センサーの光学インプットが50%増加し,スペクトル解像度が30%増加し,信号とノイズ比が高くなり,再現性,計器間差,データは標準の計測データと非常に一致しています計器間一貫性は 0 に達します.08繰り返しが 0 に達します.005関連技術は中国の発明特許で保護されています
二重光学経路設計により,繰り返し精度 dE*ab≤0を向上させる.005
二重光源モード設計者,光源ドライバー,高性能機器,メディアドライバーツール設計.インターは保護性があります中国とアメリカの無実の人々は 関連技術を守っています
革新的な1nm解像度の格子光譜技術
革新はCHNSpecの魂です革新的なMEMSプロセスによって作られたグリッド組み合わせ配列センサーは,1nmスペクトル解像度に基づいて色測定をより正確にします関連技術が中国の発明特許によって保護されています. 特許は,中国製の技術技術と,中国製の技術技術と,中国製の技術技術と,中国製の技術技術と,中国製の技術と,中国製の技術と,中国製の技術と,中国製の技術と,中国製の技術と,
計器間合意が良好:dE*ab≤0.08,
高度な繰り返しの精度:dE*ab≤0.005工場間の正確なデータ転送を確保
高精度自動校正
先進的な自動校正技術により,計器の長期的繰り返しが大幅に向上します.恒温下では,1日目と30日目のdE*abは0に達します.010°Cから40°Cまでの温度変化で,dE*abは0未満に達する可能性があります.1.
技術パラメータ
| ベンチトップスペクトロフォトメーター | |||
| モデル | DS-36D | DS-37D | DS-39D |
| 照明/測定 g 条件 |
反射:d/8 (分散照明,8°方向受信) | ||
| SCI (鏡像反射光を含む) /SCE (鏡像反射光を含まない) 同じ時に測定 準拠基準:CIE番号15, GB/T 3978, GB 2893, GB/T 18833, ISO7724/1, DIN5033 Teil7, JIS Z8722 条件 C,ASTM E1164,ASTM-D1003-07 |
|||
| 送信: d/0 (分散照明,垂直受信) | |||
| センサー | 違いスペクトルエンジン | ||
| スペクトロスコピー 方法 |
円形格子 | ||
| 統合圏 直径 |
152mm | ||
| 波長範囲 | 360nmから780nm | ||
| 波長 インターバル |
10nm | ||
| 半波幅 | 1.6nm | ||
| 反射力 測定 範囲 |
0~200% 解像度0.01% | ||
| 紫外線 測定 |
紫外線,400nm,420nm,460nmの制限を含みます | ||
| 測定時間 | シングルモード <2s | ||
| 照明/測定 g カリバー |
XLAV Φ25.4mm/Φ30mm;LAVΦ15mm/Φ18mm;MAVΦ8mm/Φ11mm;SAVΦ3mm/Φ6mm カリバースイッチは自動的に認識されます. トランスミッション:Φ17mm/Φ25mm |
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| トランスミッション 測定 仕様 |
標本の高さと厚さ:高さは制限されていません.厚さは≤50mm | ||
| 長期 繰り返し性 |
XLAV 染色値:標準偏差 ΔE*ab 0.1 の範囲内 (0°C-40°C 任意の温度変化) XLAV クロマ値:標準偏差 ΔE*ab 0.01以下 (恒温条件下では, 白色補正板は24時間以内に毎時間測定されます) |
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| 繰り返し可能性 * | ΔE*ab≤0.01, スペクトル 反射/伝播率 ≤0.1% |
ΔE*ab≤0.005, 光スペクトル反射/伝達性 ≤0.1% |
|
| インター・インストルメント 協定** |
XLAV ΔE*ab 0.18 | XLAV ΔE*ab 0.12 | XLAV ΔE*ab 0.08 |
| 標準観測者 | 2°と10° | ||
| 視界光 源 |
A,B,C,D50,D55,D65,D75,F1,F2,F3,F4,F5,F6,F7,F8,F9,F10,F11,F12,CWF,U30,U35,DLF,NBF,TL83,TL84,ID50 ID65,LED-B1,LED-B2,LED-B3,LED-B4,LED-B5,LED-BH1,LED-RGB1,LED-V1,LED-V2 |
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| 言語 | 簡体字中国語,英語,伝統的な中国語,ロシア語,スペイン語,ポルトガル語,日本語,タイ語,韓国語 ドイツ語,フランス語,ポーランド語 |
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| コンテンツを表示する | スペクトルデータ,スペクトログラム,色素データ,色素データ,色素マップ,パス/ファール 判断, 模擬色, 色評価, 霧, 液体色素性, 色偏差 |
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| 色空間に | CIE LAB,CIE LUV,LCh,ハンターラボ,Yxy,XYZ,Musell,s-RGB,βxy | ||
| クロマインデックス | WI ((ASTM E313-20,ASTM E313-73,CIE,ISO2470/R457,AATCC,ハンター,タウブ,バーガー・ステンスビー),YI ((ASTM D1925,ASTM E313-20,ASTM E313-73),Tint ((ASTM E313-20),Isochromatic index ミルク,色強度 色の変化速度,ISO明るさ,R457,A密度,T密度,E密度,M 密度,APHA/Hazen/Pt-Co ((プラチナ・コバルト指数),Gardner ((ガーデン指数),Saybolt ((シーベルト インデックス),アストマ色,霧,総伝播力,覆い力,力,強度 |
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| 色差 式 |
ΔE*ab,ΔE*CH,ΔE*uv,ΔE*cmc,ΔE*94,ΔE*00,ΔEab ((ハンター),555色調分類 | ||
| 保存 | 8GB | ||
| スクリーンサイズ | 7インチ容量感触画面 | ||
| オペレーティングシステム | アンドロイド | ||
| 電源 | DC調節電源 | ||
| 運用 温度と 湿度 |
5 ~ 40°C,相対湿度 80% (((35°C) 低冷却なし | ||
| 保存 温度と 湿度 |
-20 ~ 45°C,相対湿度 80% (((35°C) 低冷却なし | ||
| アクセサリー | 電源アダプター,USBケーブル,トランスミッション装置,ソフトウェアUディスク,黒空洞,ホワイトボード,緑色 板30mm開口 18mm開口 11mm開口 6mm開口 支え台 クウェット |
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| 選択可能 アクセサリー |
熱伝達器具 (制御回路を含む),垂直支架,空気式ブーキング棒 (包括) 制御回路),小さなサンプル保持用アクセサリー,反射カプリングプレート (取り外せない),繊維試験 ボックス,フィルムジグ,マイクロトランスミッションジグ,棒ボックス,ヨーロッパ標準プラグ,アメリカ標準プラグ |
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| 港 | RS-232,USB,USB-B,ブルートゥース | ||
| カメラ 位置付け |
超高画質カメラ (1400dpi) | ||
| オートマティック カリブレーション |
√(楽器の長期的繰り返し性を大幅に向上させることができる) | ||
| 発光 カリブレーション |
√( 紫外線強度を自動的に調整し,計器の値が 材料を測定する際に他の輸入機器と非常に一致する 紫外線 |
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| 亮度 カリブレーション |
√(明るさ校正アルゴリズムによって,超暗なサンプルの本当の色が復元されます) | ||
| ほか | 計器は横向き,上下 (アクセサリーを使用) で測定できます. 自動温度 湿度補償機能;PC側ソフトウェアでサンプル画像を保存する機能 |
||
※ 計器の校正後,XLAV校正度の標準偏差を測定するために,白い校正プレートは5秒間隔で30回測定されました ※※ 23°Cに基づいて,BCRA シリーズ 12 つのサンプルの XLAV アパルチャ測定の平均値が測定されます.