Add to Cart
HIWIN WEW17CCリニアガイドウェイは、ミクロンレベルの再現性と最小限の偏差が重要な高性能測定機器において、卓越した精度と安定性を提供するように設計された精密なモーションソリューションです。その高度な設計により、スムーズでほぼ摩擦のない動きが保証され、光学検査システムや計測器などの、測定の完全性が損なわれる可能性のあるデリケートな用途において、スティックスリップ効果が排除されます。
ガイドウェイの剛性の高い構造と最適化された予圧により、負荷時のたわみが最小限に抑えられ、高精度なスキャンやプロービング操作中であっても一貫したアライメントが維持されます。熱安定性と耐振動性が不可欠な環境向けに設計されたWEW17CCは、測定のドリフトを低減し、研究室グレードの機器や産業用検査セットアップにおける長期的な信頼性を向上させます。精密研削されたレールと高品質の転動体により、ノイズと摩耗が最小限に抑えられ、厳密な許容誤差で中断のない動作を要求する自動測定システムに最適です。高度なフィードバックシステムとサーボ制御に対応し、このリニアガイドウェイはクローズドループ位置決めをサポートし、動的測定タスクにおける誤差補正のためのリアルタイム調整を可能にします。3Dプロファイロメーター、レーザースキャンデバイス、半導体ウェーハ検査ツールに統合されているかどうかにかかわらず、WEW17CCは、追跡可能で再現性のある結果に必要な基盤的な安定性を提供します。機械的ヒステリシスを最小限に抑え、スムーズなモーション特性を維持することにより、品質保証、研究開発、精密製造において不可欠な要素である測定の不確実性を排除するのに役立ちます。そのコンパクトでありながら堅牢な設計により、性能を犠牲にすることなく、スペースに制約のある計測セットアップへのシームレスな統合が可能です。測定精度が製品品質とコンプライアンスに直接影響する業界にとって、HIWIN WEW17CCリニアガイドウェイは信頼できるコンポーネントとして、自動検査およびテストシステムが最高の精度と信頼性で動作することを保証します。
実際の製品写真⑦
