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製品パラメータ

年齢化 室

EWG 2003 年

EWG 3003

EWG 2006 年

EWG 3006

EWG 2010 年

EWG 3010

試験スペースの体積 (L)

270

1000

600

温度範囲 ((°C)

RT220〜200

RT+20~300

RT220〜200

RT+20~300

RT220〜200

RT+20~300

温度.安定性 (°C)

±0.1~±0.8

温度.均質性 ((°C)

±0.5~±2.0 (RT+20°C~+200°C)±1.5~±3.5 (200°C~+300°C)

温度.偏差 ((°C)

±0.5~±2.0 (RT+20°C~+200°C), ±0.5~±2.0 (200°C~+300°C)

熱する時間 (分)

50 (RT→+200°C),90 (RT→+300°C)

試験スペースの寸法 (mm)

600W×500D×900H

850W×700D×1000H

1000W×1000D×1000H

外側の寸法 (mm)

1000W×780D×1710H

1250W×980D×1850H

1690W×1280D×1850H

パワー

AC380V±10%,50Hz,3/N/PE

老化 の 部屋

EWG25

EWG45

EWG65

EWG85

EWG100

EWG120

試験スペースの容積 (m3)

25

45

65

85

100

120

温度範囲 ((°C)

NT1 関連性

温度.安定性 (°C)

±0.5~±10

温度.均質性 ((°C)

±1.5~±30

温度.偏差 (°C)

±1.5~±30

熱率 ((°C/分)

平均2°C/分

パワー

AC380V±10%,50Hz,3/N/PE

オプション アクセサリー• 標本保護のための独立したセンサー (NE60519-2.1993)
1 入り口 Φ100mm
• 窒素ガスの補助装置
• パーツパッケージ
標準版■ 1 入り口 Φ50mm
• 入口口に1つのシリコンストップ

品質管理

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年齢化室	EWG 2003 年	EWG 3003	EWG 2006 年	EWG 3006	EWG 2010 年	EWG 3010
試験スペースの体積 (L)	270		1000		600
温度範囲 ((°C)	RT220〜200	RT+20~300	RT220〜200	RT+20~300	RT220〜200	RT+20~300
温度.安定性 (°C)	±0.1~±0.8
温度.均質性 ((°C)	±0.5~±2.0 (RT+20°C~+200°C)±1.5~±3.5 (200°C~+300°C)
温度.偏差 ((°C)	±0.5~±2.0 (RT+20°C~+200°C), ±0.5~±2.0 (200°C~+300°C)
熱する時間 (分)	50 (RT→+200°C),90 (RT→+300°C)
試験スペースの寸法 (mm)	600W×500D×900H		850W×700D×1000H		1000W×1000D×1000H
外側の寸法 (mm)	1000W×780D×1710H		1250W×980D×1850H		1690W×1280D×1850H
パワー	AC380V±10%,50Hz,3/N/PE

老化の部屋	EWG25	EWG45	EWG65	EWG85	EWG100	EWG120
試験スペースの容積 (m3)	25	45	65	85	100	120
温度範囲 ((°C)	NT1 関連性
温度.安定性 (°C)	±0.5~±10
温度.均質性 ((°C)	±1.5~±30
温度.偏差 (°C)	±1.5~±30
熱率 ((°C/分)	平均2°C/分
パワー	AC380V±10%,50Hz,3/N/PE