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MC34673AEPR2集積回路の破片の単一セル李イオン電池のための高い入力電圧1.2A充電器

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国/地域:china
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MC34673AEPR2集積回路の破片の単一セル李イオン電池のための高い入力電圧1.2A充電器

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型式番号 :MC34673AEPR2
原産地 :元の工場
最低順序量 :20 pcs
支払の言葉 :トン/ Tは、ウェスタンユニオン、ペイパル
供給の能力 :9000pcs
受渡し時間 :1 日
包装の細部 :細部については私に連絡して下さい
ESDの電圧(人体モデル) :±2000 V
ESDの電圧(機械モデル) :±200 V
作動の周囲温度 :-40から85 °C
作動の接合部温度 :-40から150 °C
保存温度 :-65 から +150 °C
熱抵抗(接続点に場合) :10 °C/W
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34673の力管理IC

単一セル李イオン電池のための高い入力電圧1.2A充電器

 

MC34673は李イオンまたは李ポリマー電池のための費用効果が大きい完全統合された充電器です。高い入力電圧は、28Vまで、PDAs、携帯電話、携帯用ビデオ ゲーム プレーヤーおよびデジタル スチル カメラのような手持ち型装置で必要な入力過電圧の保護回路を除去します。

典型的な充満周期は細流、一定現在の(CC)および一定電圧(CV)充満モードを含んでいます。CCモード流れは外的な抵抗器を搭載する1.2Aまでプログラム可能です。また外的な抵抗器を渡る電圧が実際の充満流れを監察するのに使用されています。一定した電圧は70°C温度較差に-20°C上の0.7%の正確さの4.2Vで固定です。細流モード流れは細流モード境界より低いCCモード流れの20%に電池の電圧がとき前もって調整されます。終りの充満(EOC)の現在の境界はCCモード流れの10%に板スペースおよび費用を救うために前もって調整されます。充満流れの熱foldback特徴はICの内部温度が事前調整の境界に上がるとき充満流れを限ります。MC34673はまた入力過電圧の保護(OVP)の特徴が付いているシステムを保護します。さらに、MC34673に現在の限られた電源を使用するためにそれを完全にさせる落ちる2.6Vパワー調整の(POR)の境界があります。3つの徴候ピンはマイクロプロセッサかLEDsに(PPR、CHGは絶食し、)単にインターフェイスさせることができます。電源が、またはとき不具にされて接続されないとき、充電器は電池から1.0µA漏出流れよりより少しを引きます。

 

EPの接尾辞(PB-FREE)

98ASA10774D 

8 PIN UDFN

MC34673AEPR2集積回路の破片の単一セル李イオン電池のための高い入力電圧1.2A充電器

発注情報

装置 温度較差(TA パッケージ
MC34673AEP/R2 -40°Cへの85°C 8-UDFN

 

特徴

•外的なMOSFET、ダイオードを逆妨げてか現在感覚の抵抗器は要求されません

•保証された最高1.2Aプログラム可能なCCモード流れ

•-20°Cへの70°C上の±0.7%の電圧正確さ

•-40°Cへの85°C上の±6%の現在の正確さ

•6.8V過電圧の保護境界が付いている入力のための28V最高の電圧

•2.6V最低の入力操作電圧

•十分に排出された電池のための細流充満

•充満現在のモニター

•充満流れの熱foldback

•接尾辞コードEPが示すPbなしの包装

 

34673簡単適用図表

MC34673AEPR2集積回路の破片の単一セル李イオン電池のための高い入力電圧1.2A充電器

 

最高の評価

すべての電圧は地面に関して通知がなければあります。これらの評価を超過することは装置への機能不全か永久的な損害を与えるかもしれません。

評価 記号 価値 単位

 電気評価

入力電圧範囲

    VIN Pin

    PPRおよびCHGピン

    EN、バット、ISETおよび速いピン

 

VINに

VPPR、VCHG

VENのVのバット、VISET、Vは絶食します

 

-0.3から28

-0.3から12

-0.3から5.5

V

ESDの電圧(1)

    人体モデル(HBM)

    機械モデル(MM)

VESD

 

±2000

±200

V
 熱評価

実用温度

    包囲された

    接続点

 

TA

TJ

 

-40から85

-40から150

°C
保管温度 TSTG -65から+150 °C

熱抵抗(2)

    接続点に場合

    接続点に包囲された

 

θJC Rの

θJA Rの

 

10

70

°C/W
退潮(3)、(4)の間のピーク パッケージの退潮の温度 TPPRT ノート4 °C

ノート

1. ESDのテストは人体モデル(HBM) (Cは= 100pF負かします、Rは= 1500Ω負かします)、および機械モデル(MM)に従って行われます(Cは= 200pF、R負かします= 0Ω負かします)。

2. JEDEC DESD51-2ごとのFreescale EVBのテスト ボードに取付けられる装置。

3. Pinのはんだ付けする温度の限界は10秒の最大持続時間のためです。液浸のはんだ付けすることのために設計されていなくて。これらの限界を超過することは装置への機能不全か永久的な損害を与えるかもしれません。

4. Freescaleのパッケージの退潮の機能はJEDEC標準的なJ-STD-020CのためのPbなしの条件を満たします。ピーク パッケージの退潮の温度および湿気感受性のレベル(MSL)のために、www.freescale.comの部品番号による調査に行って下さい[例えば接頭辞/接尾辞を取除き、すべての注文可能の部品を見るために中心IDを書き入れて下さい。(すなわちMC33xxxDは33xxxを書き入れます)、そして検討のparametrics。

 

内部ブロック ダイヤグラム

MC34673AEPR2集積回路の破片の単一セル李イオン電池のための高い入力電圧1.2A充電器

ピン接続

MC34673AEPR2集積回路の破片の単一セル李イオン電池のための高い入力電圧1.2A充電器

 

パッケージ次元

EPの接尾辞

8-PIN

98ASA10774D

修正0

MC34673AEPR2集積回路の破片の単一セル李イオン電池のための高い入力電圧1.2A充電器

 

MC34673AEPR2集積回路の破片の単一セル李イオン電池のための高い入力電圧1.2A充電器

 

 

 

 

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