Wuhan Sintec Optronics Co., Ltd,

Leader in Photonic & Laser Technology

Manufacturer from China
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3 年
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400nm - 1100nm波長レーザー装置M2メーター/M2ファクター測定システム

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省/州:hubei
国/地域:china
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400nm - 1100nm波長レーザー装置M2メーター/M2ファクター測定システム

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原産地 :中国
最低注文量 :1
配達時間 :ストック
支払条件 :銀行経由のT/T
型式番号 :STCシリーズ
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波長 400-1100nm M2 メーター/M2 ファクター測定システム

 

レーザービームの質と焦点付け能力はレーザーの非常に重要なパラメータであり,通常M2因子で特徴付けられる.レーザーのM2因子を測定するには,梁直径と離散の積の違いに基づいて計算される.レーザービームの質 M2 は以下の通りである.

M2= ((PI/4*LAMDA) *d0*THETA)

M2 はレーザービームの質 M2 で,PI は 3 です.1415927,LAMDAはレーザー波長,d0はビーム直径,そしてTHETAは偏差角.

部品番号 STC-M2
検出器材料 そうだ
波長範囲 400~1100nm
受信線直径 20um-9mm
試験出力範囲 10nW-10W ((光線直径によって異なります)

システムにはソフトウェアが付属しています. 位置がソフトウェアに入力された後,ビーム直径,ビーム偏差角,およびM2は,次のように計算され,表示されます.

400nm - 1100nm波長レーザー装置M2メーター/M2ファクター測定システム

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