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ばねの接触テスト調査のためのBeCu棒TD04 TH04 C17300のベリリウムの銅
IEC 60065 2014年節の9.1.1.3テスト調査18 Ф8.6mmの子供指の調査
IEC60065不足分テストPinの調査HT-I09 IEC61032図9テスト調査13メタル ピンの先端の直径Ф3
IEC60950 図2C 試験指探査機 通信試験探査機 R6 の端半径
類似したテスト調査円停止表面Ø50 MmのIEC 60335-1テスト調査BとのIEC 61032の調査Bをテストするため
高精度IPの試験装置、テスト調査Bの絶縁体
IEC 62196-1 計測器 チェックシャッター試験探査器 20N
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高電流 3A 5A 10A 溶接カップ 春季ポゴピン 溶接ニーズのためのカスタマイズされた試験探査機
1000V / 10Aマルティメーター テストはデジタル電気試験導線の長い耐用年数を厳密に調べる
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身につけられる装置のための36V DCのばねテスト調査RFの同軸コネクタの低い抵抗
バネ付き高く有効な半導体テストPin BGAのテストの調査
10-50N力が付いているIEC60335/UL1205/IEC60475イチジク7の指の爪テスト調査
Pogo Pin、バネ付きPinは、テスト調査シンセン、中国からのはんだPinまたはPCBテストPinの工場をPin.Goldめっきした
調節のばねテスト調査は、バネ付き テスト強い引張強さをピンで止める
IEC61032堅いテスト調査11のIEC60529堅いテスト調査11
