回転子のない実験室によって使用される単一の破片制御流動計のゴム製試験機
EP2AGZ300FF35I4N 554入力/出力11920の実験室ALTERA FPGAの破片
集積回路の破片EP2C70F896C8N 260MHzのシステム内プログラム可能なゲート・アレー896-FBGA
630*560mm Re2000a 1.5kwの実験室のロータリー・エバポレータ
ICの破片のサイクロンIV FPGA装置292入力/出力4713の実験室2745kbitをプログラムするEP4CE75F23I7N
12MbpsまでのCP2102N-A01-GQFN20Rの集積回路ICの破片USBのデータ転送速度
MIOC強度調節チップ,相調節チップ
耐久性 0.3-0.5mm 厚さの歯科研究室のファニヤ 偽の歯のファニヤ
チップを積んで運ぶ箱 チップを積んで運ぶ箱 包装箱 吸収性のあるプラスチック箱
TS1003IG5 増幅器ICチップ GP 1 サーキット SOT23-5 シリコンラボ
XC7A35T 1CSG324I電子ICはFPGA ARTIX7 210入力/出力324CSBGAを欠く
高透明度 完全コントール ジルコニア ブリッジ 破裂耐性 自然美学
XC6SLX9-2TQG144C IC FPGA 102入力/出力144TQFP 715の実験室9152個の細胞1.14V | 1.26V
11×11 スクエア 実験室で育てたダイヤモンド 微波プラズマ CVD ダイヤモンド
着色された25Wは穂軸のEpistarミラーのAlu 750mAの穂軸の破片を船上に導いた
EP4CE75U19I7Nのシステム内プログラム可能なゲート・アレー湿気敏感な電子ICはEP4CE75を欠く
5AGXFB3H4F35I5プログラム可能な論理ICS Arria V GX 13688の実験室544 IOs
LCMXO2-1200UHC-4FTG256C 統合回路チップ FPGA 206 I/O 256FTBGA
