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0.1 mmの決断の拡大されたガラス、拡大されたガラス、IECの試験装置
8.5.5.2テスト方法
高圧ランプの失敗の効果に対する保護のために、次のテストは次の通り行われる:
–ランプ アセンブリは装置とは別に現地交換可能ユニットの間にMS3部品をテストされる考慮した;
–ランプ アセンブリは操作の間だけにMS3部品を考慮したり、別にテストされるか、または装置、または両方に同様に普通取付けられているかもしれない。
ランプの爆発は機械影響、電子パルス発生器または同じような方法によって刺激される。ランプは少なくとも5分の間操作上の温度および圧力を得るために作動する。潜在的な残骸の区域および粒度のための破裂の結果を評価するためには、装置かランプ アセンブリは横の表面に置かれ、粒子を装置の排気の出口の近くに捕獲する十分なサイズの暗い粘着マット（か別の適度な方法）置かれる。装置の入り口は暗い粘着マットを渡るプロダクトから水平に排出される粒子のための潜在性を最大にするために方向づけられる。
破裂の後で、発生するガラス粒子は0,1のmmの決断の拡大されたガラス部分を使用して測定される。テストは指示で指定された最悪の場合の作動の位置を模倣するために行なわれる。
