KingPo Technology Development Limited

IECの試験装置

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球根首の損傷に対するテストの保護とソケットE27-7006-22a-5のテスト接触作りのためのゲージ

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球根首の損傷に対するテストの保護とソケットE27-7006-22a-5のテスト接触作りのためのゲージ

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型式番号 :E27-
産地 :中国
最低順序量 :1
支払の言葉 :T/T
供給の能力 :1ヶ月あたりの1000 PC
包装の細部 :安全カートンのパックか合板箱
MATERALO :SUS420
受渡し時間 :7仕事日
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IEC60061-3:ソケットのランプの挿入の間の偶然接触に対するテスト接触作りそして保護のための7006-22A-5 E27のゲージ

デッサンは互換性のために必要な次元しか説明しないように意図されている。デッサンはゲージの必要な次元しか説明しないように意図されている。デッサンはゲージの必要な次元しか説明しないように意図されている。

(1)次元Eは次元S.と関連付けられる基準ピッチ円直径である。

目的:E27ソケットをに関して点検するため:

a) 不利な次元を持っているランプとの接触作り。

b) aの挿入の間の生きている部分、すなわち帽子の貝が付いている偶然接触に対する保護、

ランプ。

テスト:ホールダーは示されているようにテスト回路で接続される。

a) 開いた位置2のスイッチAおよびスイッチBによってゲージは十分に起点にねじで締まる。

この位置では、ランプは両方ともつく。

b) ランプが消えるまで上でa)のテストが、ゲージ撤回された後。

スイッチAは1を置くために動き、スイッチBは閉鎖している。ゲージはそれからまでゆっくり失敗する

ランプ ライトの。この位置で握られてゲージがスイッチBはテスト開き、

ゲージの側面の調査はゲージの間でスペースに入る限りでは下方に滑る

そしてホールダー。この位置でランプはつかない。

球根首の損傷に対するテストの保護とソケットE27-7006-22a-5のテスト接触作りのためのゲージ

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