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Annex G
接触現在および保護コンダクターの流れの測定
G.1は25 °Cの± 5の°Cの周囲温度と図G.1で示されているテスト回路の評価される供給電圧そして頻度で照明器具テストされる。
G.2はそのようなそれが意図されているタイプのランプによって照明器具作動する評価される電圧で安定させたとき蛍光および他の放電ランプのランプのワット数そして電圧が評価される価値の± 5%の内にである。
G.3は12.4.1に記述されているように接続される照明器具と保護コンダクターの流れ測定される。さらに、照明器具のPEのコンダクターと接地間の図G.1で接続されてAおよびBが図G.4の測定ネットワークは、使用される。接触流れのための測定ネットワークは切られる。
テスト順序は節G.5で説明されているようにあるが、開いた「e」常におよび測定はクラスIIの照明器具でなされない。
電圧U 4はr.m.sの抗力が高い電圧計によって抵抗器Rで（電子またはオシロスコープ）分けられる測定し、流れのための価値はr.m.sで与えられる。
接触流れの測定のためのG.4は図G.1、G.2で、回路指定し、G.3は使用される。
テスト順序は節G.5で説明されているようにある。IEC 60529に従う標準的なテスト指はテスト調査として使用され、入手しやすい金属部分、かホイルで、照明器具ボディの10 cm X 20 cmに包まれる入手しやすい絶縁の部加えられる。
ここに記述されている測定の方法は照明器具が星TNかTTシステムで使用されるという仮定に基づいている、すなわち照明器具はライン（l）と中立（n）の間で接続される。他のシステムのために、IEC 60990の関連した節を見なさい。
多段階の関係の場合には、同じプロシージャは行われるが、測定は1段階にその時になされる。同じ限界毎段階に適用するため。
図G.3の測定ネットワークは携帯用クラスIの照明器具のために保護コンダクターの流れがを頼まれるとき図G.2の測定ネットワークはを除いて他のいずれの場合も使用されるが、使用される。
図G.2およびG.3の測定ネットワークの電圧U 2およびU 3はピーク電圧である。
30のkHzの上の頻度が含まれれば、接触流れの測定は図G.2の測定に加えて電気焼跡の効果に関して測定が含まれている。焼跡の効果のために、接触現在の負担が少いr.m.sの価値は関連している。負担が少い接触現在は図G.2の500のΩの抵抗器を渡って測定されるr.m.sの電圧U 1から計算される。
末端Aの電極（標準的なテスト指）は各々の入手しやすい部分に次々と加えられる。
ターミナルの各適用のために電極は地球に、末端Bの電極加えられたり、そして他の入手しやすい部品のそれぞれに次々と適用した。
クラスIIの照明器具の測定のために、保護コンダクターは無視される。
図G.1のテスト回路は隔離変圧器を用いる。
クラスIIIの照明器具、トラックおよびワイヤー システムのためのノートの条件は検討中である。
G.5テスト順序
接触現在は次の通り測定される:
図G.1 –テスト構成:星TNまたはTTシステムの単相装置
図G.2 –測定ネットワーク、接触流れ認識のために重くされるまたは反作用（すべてのクラスのためにIIおよび固定クラスIの照明器具）
図G.3 –測定ネットワーク、のために重くされる接触流れは放す
（携帯用クラスIの照明器具のために）
図G.4 –高周波保護コンダクターの流れのために重くされる測定ネットワーク