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ベーシック型原子間力顕微鏡 - AtomExplorer
AtomExplorerベーシック型原子間力顕微鏡は、材料表面のトポグラフィーとテクスチャをサブナノメートル分解能で提供します。ナノメートルからマイクロメートルのスケールで、材料表面の微細構造や微小な特徴を捉え、材料、チップ、その他のサンプルの表面トポグラフィーに関する詳細な視覚情報を提供します。この製品は、磁気力顕微鏡（MFM）、静電力顕微鏡（EFM）、ケルビン力顕微鏡（KFM）、および原子間力顕微鏡（AFM）も統合しています。高い安定性、優れた拡張性、およびカスタマイズサービスを提供します。高精度なトポグラフィー特性評価ツールおよび高ナノスケール磁気および電気測定デバイスとして、教育、科学研究、および産業界の研究開発にさらなる選択肢とサポートを提供します。
| 項目 | 詳細 |
|---|---|
| サンプルサイズ | Φ 25 mm |
| 走査方法 | XYZ三軸フルサンプル走査 |
| 走査範囲 | 100 μm×100 μm×10 μm / 30 μm×30 μm×5 μm |
| Z軸ノイズレベル | 0.04 nm |
| チップ保護技術 | 安全針挿入モード |
| 画像サンプリングポイント | 32×32-4096×4096 |
| 動作モード | タップモード、コンタクトモード、リフトモード、位相イメージングモード |
| 多機能測定 | 静電力顕微鏡（EFM）、走査ケルビン顕微鏡（KPFM）、圧電フォース顕微鏡（PFM）、磁気力顕微鏡（MFM） |
