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自動磁気チップ最終試験機
高速、低消費電力の不揮発性情報ストレージを提供する磁気チップは、将来のストレージ技術のボトルネックを解決するための鍵と考えられています。その優れた性能と信頼性は、電子デバイスの安定した動作とデータセキュリティにとって不可欠です。 この製品は、異なる温度条件下での磁場環境をシミュレートするために、三温度帯抗磁気試験装置を使用し、複数の極端な環境下でのチップの性能と信頼性を保証します。高精度温度センサーによる高精度三温度試験、面内および垂直面の安定した制御可能な磁場を提供する磁場制御システム、非磁性試験シート、およびヒートシンク、さらに電気源メーターを備え、磁気チップの開発と製造において重要な役割を果たす、チップの磁気的および電気的特性の非破壊的バッチ試験のための試験環境を作り出します。
| インジケータカテゴリ | 説明 |
|---|---|
| 励磁システム | X軸の最大磁場強度は±2000 Oeです。 X軸磁場の均一性は≤±1%@2000 Oe@Φ35 mm球状空間です。 ゼロ磁場下の磁場の真値は≤0.1 Oeです。 |
| 高精度磁場センサー | 磁場モニターの分解能は≤10 μTです |
| 電動変位ステージモジュール | θ軸調整範囲：±180°; 回転精度≤1°; 絶対位置エンコーダを搭載 |
| 温度制御システム | 出口温度は-70°Cから220°Cの範囲をサポートしています。 |
| 試験環境温度モジュール |
ソケットの内部温度範囲は-60°Cから170°Cです 温度監視モジュールを搭載しており、温度精度は≤0.5°Cです。 |
| ソケット試験シート | 試験シートは-60°Cから170°Cの温度に耐えることができます。 材質は非磁性です |
