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低温ケール顕微鏡高磁場レーザーケール画像システム

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China 低温ケール顕微鏡高磁場レーザーケール画像システム wholesale

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低温ケール顕微鏡高磁場レーザーケール画像システム

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モデル番号 :Kmpl-l

原産地 :中国

支払い条件 :T/T

分解能 :450nm

電気源Meterc :SR830、Keithley 6221、Keithley 2182 a

垂直磁場 :水冷磁石、1.6 t@エアギャップ10.5 mm室温で。 1 t@エアギャップは、低温で24 mmです

カー角度解像度 :0.5 mdeg（rms）

温度安定性 :±50 mk

変動温度範囲 :4.2 k -420 k

目的 :5×、20×、50×、100×、非磁性

面内磁場 :水冷磁石、1 t@エアギャップ18 mm室温で。 0.75 T@エアギャップは、低温で28 mm

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極低温強磁場レーザーKerrマイクロイメージングシステム

製品紹介

二次元強磁性材料の弱磁性、小型、非導電性、低保磁力、低キュリー温度特性のために開発されたこの強力な特性評価システムは、高磁気検出精度、高精度、微小領域スポット測定と位置決め、強磁場、および広い温度変動を特徴とし、二次元強磁性材料のほとんどの磁気特性評価ニーズに対応します。

装置性能

装置性能指標	説明
光学分解能	450 nm
対物レンズ	5, 20, 50, 100, 非磁性
Kerr角分解能	0.5 mdeg (RMS)
レーザースポット	5 μm
面内磁場	水冷磁石、室温で1 T@エアギャップ18 mm; 低温で0.75 T@エアギャップ28 mm
垂直磁場	水冷磁石、室温で1.6 T@エアギャップ10.5 mm; 低温で1 T@エアギャップ24 mm
磁場分解能	PID閉ループフィードバック制御、分解能0.05 mT
可変温度範囲	4.2 K - 420 K
温度安定性	±50 mK
電気ソースメーター	SR830、Keithley 6221、Keithley 2182 A
試験機能	周囲温度および低温条件下で、磁気ドメインの動的観察、レーザー定量微小領域ヒステリシスループスキャン、電気輸送試験、および高調波試験を実行できます。
拡張	結合ポンプ光、ラマン、その他の光源で拡張できます。

応用事例

低温ケール顕微鏡高磁場レーザーケール画像システム

低温ケール顕微鏡高磁場レーザーケール画像システム

温度4.5 K、50*倍率で磁気ドメイン反転を観察、レーザーKerr角

低温ケール顕微鏡高磁場レーザーケール画像システム

CrTe 2D材料：試験条件—100 K温度、50*対物レンズ、偏光、磁気ドメイン反転中の鮮明な差分画像コントラスト。

FG 2D材料：試験条件—5 K温度、50*対物レンズ、偏光、2800 mT磁場印加、鮮明なイメージング。

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