多機能原子力顕微鏡 低騒音物質顕微鏡 MFM EFM PFMモード

製品説明：

AFMの主な特徴の1つは、Z方向とXY方向の両方における低ノイズレベルであり、正確で信頼性の高い測定を保証します。Z方向のノイズレベルは0.04 Nmと非常に優れており、微妙な表面の変動や相互作用を捉えるための優れた感度を提供します。XY方向では、ノイズレベルは0.4 Nmに維持されており、画像処理とスキャンプロセスの精度をさらに高めています。

AFMは、分析用の幅広いサンプルに対応できる25 mmの十分なサンプルサイズ容量を提供します。その多用途なスキャン方法は、XYZ三軸フルサンプルスキャンを利用しており、サンプルの表面の包括的な測定と分析を可能にします。AFMのスキャン範囲は広範囲にわたり、100 μm x 100 μm x 10 μmをカバーしており、ナノ構造や表面の特徴の詳細な画像処理とマッピングを可能にします。

研究者や科学者は、ナノスケールでの電気的特性の特性評価を可能にするAFMのナノスケール電気測定機能から大きな恩恵を受けることができます。AFMの静電フォース顕微鏡機能により、表面電荷分布と静電相互作用を調査することができ、原子レベルでの材料の挙動に関する貴重な洞察が得られます。

結論として、原子間力顕微鏡は、ナノスケールでの画像処理と測定において、比類のない精度、感度、および多用途性を提供する洗練された機器です。その高度な機能、低ノイズレベル、および包括的なスキャン機能により、AFMは、さまざまな分野における科学研究と探求に不可欠なツールです。

特徴：

• 製品名：原子間力顕微鏡
• 非線形性：XY方向で0.02％、Z方向で0.08％
• スキャン速度：0.1～30 Hz
• サンプルサイズ：25 mm
• Z方向のノイズレベル：0.04 Nm
• スキャン方法：XYZ三軸フルサンプルスキャン

技術的パラメータ：

用途：

AtomEdge Proの主な用途の1つは、表面分析です。研究者や科学者は、このAFMを使用して、ナノスケールレベルでの幅広い表面のトポグラフィーと特性を調査できます。Z方向のノイズレベルは0.04 Nmであり、正確で信頼性の高い測定を保証し、表面粗さ分析と特性評価に最適です。

AtomEdge Proを使用するもう1つの重要なシナリオは、材料科学研究です。100 μm X 100 μm x 10 μmのスキャン範囲と、XY方向の0.4 Nmのノイズレベルにより、ナノスケールでの材料特性の詳細な検査が可能になります。薄膜、ポリマー、複合材料を問わず、このAFMは材料の組成と構造に関する貴重な洞察を提供します。

さらに、AtomEdge Proのスキャン方法は、XYZ三軸フルサンプルスキャンを利用しており、さまざまなサンプルの画像処理において柔軟性と精度を提供します。研究者は、ナノ材料、生物学的サンプル、および半導体デバイスを、0.1～30 Hzのスキャン速度のおかげで容易に探索できます。

学術界では、AtomEdge Proは、ナノテクノロジー研究に不可欠なツールとして機能し、科学者がナノ材料とナノ構造の複雑な世界を深く掘り下げることができます。その高度な機能と使いやすいインターフェースにより、ナノスケール現象の研究と高精度での実験の実施に最適な選択肢となっています。